[发明专利]检测DNA芯片假阳性、假阴性杂交信号的方法有效
| 申请号： | 99104668.4 | 申请日： | 1999-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN1139812C | 公开（公告）日： | 2004-02-25 |
| 发明（设计）人： | 杨梦甦;雷国华 | 申请（专利权）人： | 杨梦甦 |
| 主分类号： | G01N33/533 | 分类号： | G01N33/533;C12Q1/68 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人： | 张法高 |
| 地址： | 香港达之路83*** | 国省代码： | 中国香港;81 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测DNA芯片假阳性、假阴性杂交信号的方法。它是将DNA芯片放置于温控杂交盒中，加入含待测靶基因的杂交液于杂交盒内，按需设置芯片的杂交温度和时间，漂洗温度和时间，由计算机控制定时对杂交荧光信号进行扫描，利用荧光显微镜或共聚焦显微镜记录几个不同温度下DNA芯片的荧光图像。本发明的优点：可以检测出DNA芯片杂交信号中的假阳性、假阴性信号，提高DNA芯片检测结果的准确性，还可以缩短检测时间，实验简单易行。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 dna 芯片 阳性 阴性 杂交 信号 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测DNA芯片假阳性、假阴性杂交信号的方法，其特征在于将DNA芯片放置于温控杂交盒中，加入含待测靶基因的杂交液于杂交盒内，设置芯片的杂交温度35-45℃，由计算机控制定时对杂交荧光信号进行扫描，利用荧光显微镜或共聚焦显微镜记录几个不同温度下DNA芯片的荧光图像，当杂交完成后，增加DNA芯片的溶液温度检测双链解链速度，如果所有温度下，某一区域荧光强度均匀低于某一阈值，则认为该区域的信号为阴性信号；如在某一温度下荧光强度高于阈值，则根据动态杂交曲线或动态解链曲线进行判断。
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