[发明专利]IC测试装置无效
| 申请号： | 99104797.4 | 申请日： | 1999-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN1230691A | 公开（公告）日： | 1999-10-06 |
| 发明（设计）人： | 中村浩人;齐藤登 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的目的是提高向被测试IC的接触部的定位精度。该IC测试装置把被测试IC的输入输出端子HB压到检测头的触针51上来进行检测,在被测试IC的检测托架的插入器19中设置与被测试IC的焊锡球HB相嵌合的孔23。 | ||
| 搜索关键词： | ic 测试 装置 | ||
【主权项】：
1．一种IC测试装置，把被测试IC的输入输出端子压到检测头的接触部上，来进行检测，其特征在于，在上述被测试IC的保持媒体上设置与上述被测试IC的输入输出端子相接触来对其进行定位的导向装置。
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