[发明专利]缺陷管理信息记录介质、缺陷管理和实时数据记录的方法有效
申请号: | 99105135.1 | 申请日: | 1999-04-20 |
公开(公告)号: | CN1233052A | 公开(公告)日: | 1999-10-27 |
发明(设计)人: | 高祯完 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18 |
代理公司: | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人: | 马莹 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供了一种用于存储缺陷管理信息以记录实时数据的记录介质及其缺陷管理方法、和记录实时数据的方法。记录介质存储表示使用或不使用线性替换缺陷管理的信息,其中记录介质上的缺陷区用备用区代替,以便记录实时数据。在保持该缺陷管理方法和基于当前DVD-RAM标准的缺陷管理方法之间的兼容性的同时,即在允许存在尚未线性替换的块的同时,当记录实时数据时不执行线性替换。这样能够记录和再现实时数据。 | ||
搜索关键词: | 缺陷 管理 信息 记录 介质 实时 数据 方法 | ||
【主权项】:
1、一种包括记录区和备用区的记录介质,用于存储表示使用或不使用线性替换缺陷管理的信息,其中记录介质上的缺陷区用备用区替换。
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