[发明专利]红外线检测元件及其制造方法无效
申请号: | 99107154.9 | 申请日: | 1999-06-01 |
公开(公告)号: | CN1105905C | 公开(公告)日: | 2003-04-16 |
发明(设计)人: | 镰田健;高山良一;藤井觉;友泽淳;神野伊策 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G01J5/10 | 分类号: | G01J5/10 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 黄依文 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种小型高性能的红外线检测元件及其制造方法。该红外线检测元件具有配置于同一基板上的、从由热电型红外线检测部、电阻变化型红外线检部及介电常数变化型红外线检测部组成的一组检测部中选出的至少2种红外线检测部。 | ||
搜索关键词: | 红外线 检测 元件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种红外线检测元件,具有基板及配置于该基板上的红外线检测部,其特征在于,所述红外线检测部包括一电阻变化型红外线检测部,以及热电型红外线检测部和介电常数变化型红外线检测部之中的至少一种红外线检测部,所述电阻变化型红外线检测部的电阻体与所述至少一种红外线检测部的一个电极由相同的导电性材料构成。
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