[发明专利]测定与光学装置一起使用的光学元件象差的方法和装置有效
| 申请号： | 99111149.4 | 申请日： | 1999-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN1133073C | 公开（公告）日： | 2003-12-31 |
| 发明（设计）人： | 高田和政;中城正裕;西井完治 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱进桂 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种测定与诸如DVD的光学系统一起使用的光学元件如光学头象差的方法。在此方法中，光束透过光学元件并衍射成例如0，±1，±2级衍射光。其中，第一和第二光束(如0和+1，0和-1，+1和-1，或0和±1级衍射光)叠加形成第一和第二光束共有的一个图象。然后测得在共有图象中第一和第二点处的光强度。此时，使第一和第二点处的光强变化。之后测得第一和第二点之间光强的相位差。利用相位差判定光学元件的象差。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 光学 装置 一起 使用 元件 象差 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测定光学元件象差的方法，包括步骤：设置实质上与预定的轴垂直的衍射光栅；执行下列子步骤(a)-(e)：(a)使光束透过光学元件；(b)使上述光束衍射，以形成第一和第二衍射光；(c)使上述第一和第二衍射光束重叠，形成第一和第二光束共有的一个图象；(d)在检测上述共有图象中第一和第二点处的光强度时，改变上述共有图象中第一和第二点处的所述光强度，所述第一和第二点位于与连接所述第一和第二图像的各自的中心点的另一条线垂直延伸的一条线上，并且相对于所述另一条线对称；(e)确定第一和第二点之间光强的相位差；绕所述轴旋转所述衍射光栅；再次执行所述子步骤(a)-(e)；利用确定的相位差测定光学元件的象差。
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