[发明专利]光刻物镜分辨力与传函测试装置无效
申请号: | 99117304.X | 申请日: | 1999-10-14 |
公开(公告)号: | CN1293358A | 公开(公告)日: | 2001-05-02 |
发明(设计)人: | 陈旭南;何上封;魏全忠;李展;陈元培 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 中国科学院成都专利事务所 | 代理人: | 张一红,王庆理 |
地址: | 61020*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种光刻物镜分辨力与传函测试装置,它克服了现有物镜测试仪器只能测试尺寸重量小、测试时可卧倒放置、精度较低的常规小型物镜的缺点。它由减振基板、大支架、照明系统、测试板、显微物镜和CCD接收器连接而成的图象接收器、显示器和存储示波器组成,被测光刻物镜竖直放置在支架水平台上,通过更换装置的垫块和照明系统,方便地测试各种共轭距、尺寸重量、工作波长的需要竖直测试的高分辨力光刻物镜。 | ||
搜索关键词: | 光刻 物镜 分辨力 测试 装置 | ||
【主权项】:
1、一种光刻物镜分辨力与传函测试装置,由放置在减振大基板(1)的大支架(2)的水平台面固定大垫块(15),以支撑照明系统(14),显微物镜(7)和CCD接收器(4)组成图象接收系统,与图象显示器(9)以及存储示波器(17)连接,其特征在于:大支架(2)水平台面上竖直放置的被测物镜(10)的物方端面放置标准垫块(11),水平支撑测试板(12),板上的分辨力与传函测试图形由被测物镜(10)投影成像于像面W'W'平面。连接架(5)将显微物镜(7)固定在三维调整架(3)上,显微物镜(7)调焦于被测物镜(10)像面W'W'平面。分辨力测试在显示器(9)上观测,传函测试数据由存储示波器(17)记录读数。
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