[发明专利]确定可写入光存储介质的检测写入参数的方法和装置有效
| 申请号： | 99119480.2 | 申请日： | 1999-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN1151495C | 公开（公告）日： | 2004-05-26 |
| 发明（设计）人： | 金正祐 | 申请（专利权）人： | LG电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/0045 | 分类号： | G11B7/0045;G11B7/125 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 陆弋;穆德骏 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种确定制造商指定检测写入参数来向与介质制造商一致的可写入光存储介质进行写入的方法和装置，该参数由实验确定并被存储在特定存储单元中，基于确定的最佳检测写入参数来确定最佳写入光功率并把输入信号写入光盘的用户数据区。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 写入 存储 介质 检测 参数 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种确定用于可写入光存储介质的写入的制造商指定的检测写入参数的方法，包括：探测包含在可写入光存储介质中的唯一指定可写入光存储介质的各自的制造商的信息；和通过应用对应于探测到的信息的预定的制造商指定的最佳检测写入参数来检测向可写入光存储介质的写入操作，执行可写入光存储介质上的写入参数的优化，从而确定用于向可写入光存储介质进行写入的优化的写入参数，其中该预定的制造商指定的最佳检测写入参数预存储在可写入光存储介质记录/重放装置的内部存储器中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于LG电子株式会社，未经LG电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/99119480.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
