[发明专利]联合测试系统和采用这种系统的测试方法无效

专利信息
申请号: 99121351.3 申请日: 1999-10-13
公开(公告)号: CN1138152C 公开(公告)日: 2004-02-11
发明(设计)人: 韩钟炯;沈容泽;郭汰永 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G11B33/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 周备麟;黄力行
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 一种用于测试印刷电路板组件性能的联合测试系统及其测试方法。掩蔽板和印刷电路板组件安装在插接板上,具有不同高度的测试方法连接插脚从插接板伸出。测试方法连接插脚、电源输入连接器和信号接口连接器与印刷电路板组件和安装在其上的插脚连接。产生电路内测试信号以测试印刷电路板组件。仅将电路功能测试连接插脚与印刷电路板组件分离,测试印刷电路板组件和一头磁盘组件之间的功能。最后显示电路内测试方法和电路功能测试方法的结果。
搜索关键词: 联合 测试 系统 采用 这种 方法
【主权项】:
1.一种联合测试系统,用于测试印刷电路板组件的性能,该联合测试系统包括:一个插接板,具有不同高度的连接插脚从此插接板伸出,其中所述插接板安装在一个主支架上;一个掩蔽板,其上形成有孔,在将该掩蔽板安装在所述插接板上时,所述连接插脚可以穿过所述孔而与安装在此掩蔽板上的所述印刷电路板组件连接;第一支架,它由竖直安装在所述主支架上的第一导引杆支撑,并且具有安装在其上部的用于上下驱动的第一缸;第二支架,其下部安装有一个电源输入连接器和一个信号接口连接器,其中当所述第一缸被驱动时,所述第二支架沿所述第一导引杆移动,从而通过下压所述印刷电路板组件而使所述连接插脚与所述印刷电路板组件连接;第二缸,它安装在所述第二支架的上部并且被前后驱动;和第三支架,其上部具有一个头磁盘组件,当所述第二支架已经向下移动时,此头磁盘组件通过连接插脚与所述印刷电路板组件连接,其中当所述第二缸被驱动时,所述第三支架沿第二导引杆移动,从而使所述电源输入连接器和所述信号接口连接器分别与所述印刷电路板组件的电源输入插脚和信号接口插脚连接。
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