[发明专利]MFC系高介质压敏电阻/电容复合元件的生产方法无效

专利信息
申请号: 99122540.6 申请日: 1999-11-18
公开(公告)号: CN1095589C 公开(公告)日: 2002-12-04
发明(设计)人: 原培新;杨怀光 申请(专利权)人: 原培新;杨怀光
主分类号: H01C7/115 分类号: H01C7/115;H01G17/00
代理公司: 沈阳东大专利代理有限公司 代理人: 李运萍
地址: 110006 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明公开了一种制造MFC系高介质压敏电阻/电容复合元件的生产方法,由配料、球磨、造粒、打片、排胶,烧结、清洗、打弯、检测、中试、电极印刷、焊结、分选、链式烧成、包封、打印标志、包装、水处理等工艺组成。该制造方法可采用国产原料,国产设备、工艺相对简单、生产成本低、成品率达88%。产品性能符合国际标准可替代进口元件。
搜索关键词: mfc 介质 压敏电阻 电容 复合 元件 生产 方法
【主权项】:
1、一种制造MFC系高介质压敏电阻/电容复合元件的生产方法,由配料、球磨、造粒、打片、排胶、烧结、清洗、打弯、检测、中试、电极印刷、焊接、分选、链式烧成、包封、打印标志、包装、水处理步骤组成,其特征在于该方法的配料和烧结的步骤如下:(a)配料:以SrTiO3为主材料,La2O3为主施杂质,加入Ni2O5、Mn2O3、SiC、BaTiO3、TiO2、ZnO、In、Ga和Ba;(b)烧结:从基础温度30℃~550℃要求升温的速度在1.5~1.8℃/分,之后升温的速度可以加快,升温速度最快每分钟不超过5℃,为使SrTiO3形成半导体化,在不同成片电压条件约束下其造成氧空位的温度是不一样的,其温度在1100~1400℃度范围内设定,同时炉内的气氛也是根据产品的电压值、电容值不同而变化,其通入量在3~50升/分速度通入氢气气体及在1~25L/分速度通入氮气体,通气的压力在0.01~0.05MPa之间,而产品的保温温度在1380~1480℃之间,保温时间3--8小时,经测试,如果出炉后成片的电压值不够,曲线不够陡峭,用压缩空气加入1~5%的硝酸锰水溶液进行二次氧化,氧化温度在700℃~1150℃之间,氧化时间为10分钟~1小时。
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