[发明专利]用单片一维图象探测器件测量二维角度的方法及测量仪器

摘要

本发明公开了一种用单片一维图象探测器件测量二维角度的方法及测量仪器，它包括光源、分划板、物镜组、反射镜图象探测器件、分光棱镜。所述的分划板设置有带N字型、∧型、∨型；所述分光棱镜的共轭焦平面处设置有一维图象探测器件。通过该仪器可方便地测量角度。本发明的方法及其测量仪器具有分辨率高、精度高、仪器结构简单、成本低的特点。

主权项

1.一种用单片一维图象探测器件测量二维角度的方法，在自准直光路中，光线由光源经聚光镜聚光，通过带有指标线的分划板，经物镜组照射到反射镜上，光线经反射镜反射，再通过物镜组经分光棱镜分光，达到物镜相对于分光棱镜的共轭焦平面，在所述的共轭焦平面处放置有图象探测器件，其特征在于：a.所述的分划板指标线图案为N字型、∧型、∨型或其它带有相交斜线图案；b.所述的在共轭焦平面处放置的图象探测器件，是一片一维图象探测器；c.偏角通过如下公式计算：设一维图象探测器件的方向为x方向，指标线的方向为y方向，指标线分划板的两指标线夹角为α，Δx和Δy分别表示反射镜两个不同位置时指标线影像在x坐标和y坐标的偏移量，那么换算成反射镜上x、y坐标偏角为：其中AA′是指反射镜在两个不同状态时分划板指标线的投影图在一维图象探测器件的偏移量；L1、L2是指反射镜在两个不同状态下分划板指标线的投影图在一维图象探测器件的长度；α是指分划板指标线两条斜线之间的夹角；f是指自准直系统焦距。