[发明专利]磁盘表面划痕所致读取错误发生概率低的磁盘设备无效

专利信息
申请号: 99125011.7 申请日: 1999-10-14
公开(公告)号: CN1123884C 公开(公告)日: 2003-10-08
发明(设计)人: 菅原孝幸;河内隆宏;天白昌宏;久保田芳恭 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 吕晓章
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种磁盘设备,包括:一个磁头,一个把磁头读出的信号提供给信号处理单元的门,和一控制所述门的控制单元,该磁盘设备能在产生由于磁盘表面划痕等所导致的参考信号读取错误之后读取正常数据。在该磁盘设备中,若不能在点P读出参考信号(STM),则计量经过的时间(Tw),并确定表示应该打开读出门的时间T1与时间Tw之间差值的时间T2。在时间T2经过后,该读出门被打开,因此可正确地读出数据、并用该读出数据进行解码处理。
搜索关键词: 磁盘 表面 划痕 所致 读取 错误 发生 概率 设备
【主权项】:
1.一种磁盘设备,包括:一个磁头,用于从磁盘中读取所记录的信息,该磁盘设有伺服字段、和位于所述伺服字段之后的SYNC区和数据区;一个门,用于把所述磁头读出的信号提供给信号处理单元;和一个控制单元,用于控制所述门;其中,所述控制单元这样地进行控制:从所述磁头读取的信号中检测出所述伺服字段中的参考信号(STM2)的时刻开始测量,在一设定的期间(T1)经过之后,打开所述门;并且其中,如果在继检测到前一个参考信号(STM1)后经过预定期间(T)之后、所述参考信号(STM2)未能被检测到,则从所述前一个参考信号(STM1)被检测到的时刻起测量、在与所述预定期间(T)和所述设定的期间(T1)相对应的期间经过之后,所述门被打开,所述预定期间(T)对应于参考信号(STM2)应该被检测到的期间。
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