[实用新型]将单轴测径仪扩展成全断面外径测量的装置无效
| 申请号： | 99244501.9 | 申请日： | 1999-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN2390178Y | 公开（公告）日： | 2000-08-02 |
| 发明（设计）人： | 陈炳生;刘宝瑛;李学超;龚代来 | 申请（专利权）人： | 陈炳生 |
| 主分类号： | G01B5/08 | 分类号： | G01B5/08 |
| 代理公司： | 天津市专利律师事务所 | 代理人： | 侯力 |
| 地址： | 300192*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本新型属于测量仪器特别是测径仪附属装置。解决将单轴测径仪扩展成全断面外径测量的装置问题。该装置包括U形或L形支架和用于固定测径仪的旋转架,旋转架侧壁上安装两个导轮组件,该导轮组件嵌入支架上的环形导圈槽内,使测径仪围绕被测物中心做近似同轴旋转,使单轴测径仪可连续地测出被测物全断面外径值,进而测出平均外径值、周长值和不圆度值而不需增加太多成本,大大扩展了其使用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 将单轴测径仪 扩展 成全 断面 外径 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种将单轴测径仪扩展成全断面外径测量的装置，包括用于安装测径仪的支架，其特征是在U形或L形支架侧壁上开有一个环形导圈槽，支架内侧用于固定测径仪的U形或L形旋转架的侧壁外侧安装有两个使侧径仪悬挂安装并可旋转的导轮或导轮组件，该导轮或导轮组件嵌入支架的环形导圈槽内。
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