[实用新型]无漏探光电监测装置无效

专利信息
申请号: 99256132.9 申请日: 1999-12-28
公开(公告)号: CN2401882Y 公开(公告)日: 2000-10-18
发明(设计)人: 刘新平;汶德胜;李自田;姚胜利;曹兴房;高应俊;王虎 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J1/16 分类号: G01J1/16
代理公司: 中国科学院西安专利事务所 代理人: 任越
地址: 710068 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型公开了一种无漏探光电监测装置,由前置光学系统以及光强度测量探测器件构成,光强度测量探测器件采用光电二极管阵列器件,在前置光学系统和光强度测量探测器件之间增设了一个梯度折射率列阵器件,该梯度折射率列阵器件能够在前置光学系统与光强度测量探测器件之间形成一个二次像面,可以有效地解决现有光电监测装置所存在的漏探之缺陷。
搜索关键词: 无漏探 光电 监测 装置
【主权项】:
1、一种无漏探光电监测装置,由前置光学系统以及光强度测量探测器件构成,光强度测量探测器件采用光电二极管阵列器件,其特征是在前置光学系统和光强度测量探测器件之间增设了一个梯度折射率列阵器件,前置光学系统的焦平面位于梯度折射率列阵器件的像平面上。
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