[实用新型]表面形状测量系统无效
| 申请号： | 99257603.2 | 申请日： | 1999-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN2414414Y | 公开（公告）日： | 2001-01-10 |
| 发明（设计）人： | 邱大明 | 申请（专利权）人： | 北京中联发机电技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45;G01N21/95 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型属于光学测量领域,特别涉及物体表面形状测量系统。本实用新型由投影云纹干涉仪、载物台及计算机图像处理系统三部分组成,全部安装在一个工作台面上。测量时,将被测物体安装在载物台,利用云纹干涉技术获取表面型面特征信息,由摄像机接收并由计算机将信息处理以形成物体表面各点X、Y、Z坐标,全部测量在1—5分钟完成。本实用新型测量系统具有非接触、快捷和全场测量的优点,特别适用于机器制造领域的叶片制造业及其他高科技制造领域的物体表面形状测量。 | ||
| 搜索关键词： | 表面 形状 测量 系统 | ||
【主权项】：
1．一种表面形状测量系统由投影云纹干涉仪、载物台及计算机图像处理系统组成，其特征在于：(1)投影云纹干涉仪的投影臂和接收臂通过定位销固定在移动平台上(2)接收臂的光学中心与投影臂的光学中心在一个工作平面内并与投影云纹干涉仪的移动平台平行(3)移动平台通过定位销固定在工作台面上。
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