[发明专利]老化试验插座无效

专利信息
申请号: 99800671.8 申请日: 1999-03-31
公开(公告)号: CN1266491A 公开(公告)日: 2000-09-13
发明(设计)人: 山本勇;中野智宏;金重祥 申请(专利权)人: 莫勒克斯有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 郑中军
地址: 美国伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种插座,用于对具有引角的集成电路组件进行老化试验。此插座具有一外插座体;一内插座体,可相对于外插座体,在上极限位置和下极限位置间滑动,内插座体用于支撑集成电路组件,并具有数个端子容纳腔。插座还包括数个端子,设置在所述内插座体的端子容纳腔中,用以与集成电路组件的引角接触;凸轮装置,用以使内插座体相对于外插座体,在上极限位置与下极限位置间升降;挚子装置,用以相对于内插座体夹持和释放集成电路组件。
搜索关键词: 老化试验 插座
【主权项】:
1.一种插座,用于对具有引角的集成电路组件进行老化试验,所述插座具有:内插座体,可相对于所述外插座体,在上极限位置和下极限位置间滑动,所述内插座体用于支承所述集成电路组件,并具有数个端子容纳腔;数个端子,设置在所述内插座体的所述端子容纳腔中,以接触所述集成电路组件的所述引角;凸轮装置,用于相对于所述外插座体,在所述上极限位置和下极限位置间升降所述内插座体;和挚子装置,用于相对于所述内插座体,夹持和释放所述集成电路组件。
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