[发明专利]电光装置用基板及其检查方法和有源矩阵基板无效

专利信息
申请号: 99801837.6 申请日: 1999-10-15
公开(公告)号: CN1153179C 公开(公告)日: 2004-06-09
发明(设计)人: 小泽德郎 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G09F9/30 分类号: G09F9/30
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯;王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在第1栅线断线检查过程中,对第1左侧晶体管列的各栅,供给使各薄膜晶体管成为导通状态的信号,测定流过由各薄膜晶体管导通的2条栅线的电流值。在第2栅线断线检查过程中,对第2左侧晶体管列的各栅,供给使各薄膜晶体管成为导通状态的信号,测定流过由各薄膜晶体管导通的2条栅线的电流值。其次,根据第1栅线断线检查过程和第2栅线断线检查过程的检查结果,判定是否在某一条栅线中存在缺陷。
搜索关键词: 电光 装置 用基板 及其 检查 方法 有源 矩阵
【主权项】:
1.一种电光装置用基板,其特征在于,具备:多条布线;多个开关元件,分别插在由邻接的2条上述布线构成的布线对之间,分别属于第1组或第2组的任一组,由一条布线和与该布线相邻的2条上述布线构成的上述各布线对之间分别插入的开关元件属于不同的组,能以上述各组为单位进行属于该组的开关元件的通断切换;以及移位寄存器,将供给上述各布线对的数据依次移位;在通过导通的上述开关元件串联连接的布线对中,通过将数据从上述移位寄存器供给到该布线对的一条布线,而将电流流过或将电压施加到上述布线对,并且根据上述移位寄存器依次移位的数据,将电流依次流过或依次将电压施加到各上述多个布线对。
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