[发明专利]借助法拉第效应测量磁场的方法和装置无效
申请号: | 99802899.1 | 申请日: | 1999-02-11 |
公开(公告)号: | CN1290350A | 公开(公告)日: | 2001-04-04 |
发明(设计)人: | 奥特马·贝耶尔;托马斯·博塞尔曼 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | G01R15/24 | 分类号: | G01R15/24 |
代理公司: | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人: | 侯宇 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种借助于法拉第效应测量磁场的方法;其中,光线被耦合进设置在磁场中的一法拉第元件(4)中,该光线包含具有第一波长的线性偏振的第一光线分量(Pa)和具有与第一波长不同的第二波长的非偏振的第二光线分量(Pb)。光线信号从法拉第元件(4)里面耦出,该光线信号在光学技术上被分成具有第一波长的第一光线信号分量(LSa)和具有第二波长的第二光线信号分量(LSb),并由第一光线信号分量(LSa)导出第一测量信号(Sa),由第二光线信号分量(LSb)导出第二测量信号(Sb),这些测量信号被用来生成一修正测量信号(S)。用这种方法可以在测量随时间恒定不变的磁场或具有随时间恒定不变分量的磁场时在很大程度上补偿在传输线路中的衰减影响。 | ||
搜索关键词: | 借助 法拉第 效应 测量 磁场 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种借助于法拉第效应测量磁场的方法,其中,光线被耦入设置在磁场中的法拉第元件(4)内,该光线含有具有第一波长的线性偏振的第一光线分量(Pa)和具有与第一波长不同的第二波长的非偏振的第二光线分量(Pb),由法拉第元件(4)耦出的光线信号由此在光学技术上被分成具有第一波长的第一光线信号分量(LSa)和具有第二波长的第二光线信号分量(LSb),并由第一光线信号分量(LSa)导出第一测量信号(Sa),由第二光线信号分量(LSb)导出第二测量信号(Sb),这些测量信号被用来生成一修正测量信号(S)。
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