[发明专利]用坐标测量仪测定物体几何形状的方法和装置有效
| 申请号： | 99807245.1 | 申请日： | 1999-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN1305582A | 公开（公告）日： | 2001-07-25 |
| 发明（设计）人： | R·克里斯托夫 | 申请（专利权）人： | 沃思测量技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正,张志醒 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用一种坐标测量仪来测量物体几何形状的方法和装置。光学系统(10)被用于在至少一个检测器(30)上形成至少是光斑或光点的图像,所述光斑或光点的位置取决于物体的几何形状,成像的比例、景深和与物体的距离依靠一个变焦距镜组(18)来调整,所述变焦距镜组的透镜组(20,22)都可以由电动力作用而轴向移动。 | ||
| 搜索关键词： | 坐标 测量仪 测定 物体 几何 形状 方法 装置 | ||
【主权项】：
1．一种利用坐标测量仪来测量物体几何形状的方法，所述坐标测量仪含有一个光学系统，该光学系统用于测量和在至少一个检测器上形成至少一个其位置取决于几何形状的光斑、光点、对比度变化及/或边缘等图像，所述检测器的输出信号被用作分析，其中，光学系统可用来调整可选择的成像比例和可选择的与相应物体的距离。其特征在于：所述光学系统包含一个变焦距镜组，其透镜组各自独立地被电动力移动到成像比例和与物体的距离所需的位置上。
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