[发明专利]与光学电流检测器做成整体的断路器测电杆无效

专利信息
申请号: 99809334.3 申请日: 1999-08-05
公开(公告)号: CN1143339C 公开(公告)日: 2004-03-24
发明(设计)人: C·皮尔扎;E·森特纳罗;P·加布斯;K·波纳特;H·布雷恩德勒;R·卡梅洛尼 申请(专利权)人: ABB阿达股份公司
主分类号: H01H33/26 分类号: H01H33/26
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 周备麟;黄力行
地址: 意大*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要: 一种高压和/或中压断路器的测电杆,它具有:一个绝缘壳体;至少一个设置在上述绝缘壳体内并含有至少一个活动接头和至少一个固定接头的隔断室;一个测量流过上述测电杆的电流的装置;和一种介电气体,其特征在于,上述的测量流过上述测电杆的电流的装置是一种设置在上述测电杆的充满介电气体的空间内的光学电流检测器。
搜索关键词: 光学 电流 检测器 做成 整体 断路器 电杆
【主权项】:
1.一种高压和/或中压断路器的测电杆,它具有:一个绝缘壳体(81);至少一个设置在上述绝缘壳体(81)内并含有至少一个活动接头和至少一个固定接头的隔断室(80);一种介电气体;和一个测量流过上述测电杆的电流的装置;其特征在于,上述装置包括一个流入偏振光波的光学电流检测器(86),所述光学电流检测器被设置在该测电杆的由介电气体占据的容积内;一个将光波(55)发送至所述光学电流检测器的控制系统(92);和所述光波沿其行进的连接控制系统(92)和光学电源检测器(96)的传输设施(87,99)。
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