[发明专利]容性的图像测定方法

摘要

采用网格状布置的导体表面来进行容性的图像测定，其中，在为测量而设的导体(2)之间总是采用了屏蔽导体(8)。在多个充电和放电周期内，为避免屏蔽电容之间的位移电流，属于各个像点的导体上的电位总是相跟随的。为使该导体上的电位产生同等的变化，譬如可以采用带有反馈运算放大器(9，10)的补偿线路。

主权项

1.容性的图像测定方法，其中：a)需要以图像形式测定的平面(1)被分解成网格状的像点，所述像点分配有一种导电体装置，对于每个像点，所述导电体至少包括一个测试导体(2)和一个处于该测试导体周围的屏蔽导体(7，8)，b)需要以图像形式测定的平面(1)被放置在测试导体(2)的对面，这样，在像点和测试导体(2)之间总存在一个取决于相关像点的电容，c)在每个像点处，测试导体(2)和屏蔽导体(7，8)总是与同一个电位相接，然后又分开，d)在每个像点处，测试导体(2)和/或屏蔽导体(7，8)上的电荷被放电到相应的积聚电容(Cs)上，其中，同时对测试导体(2)和屏蔽导体(7，8)之间产生的电位差进行补偿，以及e)重复步骤c和d，直到积聚电容(Cs)上积聚的电荷至少具有一个足够的预定值，使得可以对每个积聚电容进行单独地测量。