[发明专利]一种监测表面结构分布或空间颗粒分布的方法

摘要

一种监测表面结构分布或空间的颗粒分布的方法,其中用视频技术制作分布的光学二维图像,该图像被分解成像素,测定每个像素的平均亮度和沿事先选择的像素行列计算毗连的像素亮度值的差异。这些差异值被记录在数据载体上和/或以一种方式输出使差异值与图像保持相互关系。由此可以研究在何处出现表面上结构分布或在空间中颗粒分布的不均匀性。该方法可应用于如表面均匀性判断、表面缺陷检测和检查空间喷射的孔径角和均匀性等方面。

主权项

1.一种检查表面的结构分布或空间的颗粒分布的方法，其特征在于，a)用光学方法或电子方法制作至少一张二维的分布图像，将图像分解成像素并将每个像素的亮度值用数字形式存储在一个数据存储器中；b)将图像或该图像的一个区段按规定数量分成成行排列的图像组元，其中每个图像组元包括至少四个像素；c)通过图像组元的各个像素亮度值的平均值测定每个图像组元的平均亮度值；d)沿着规定的第1行图像组元测定毗邻图像组元的平均亮度值之间的差异，该差异值记录在可机读的数据存储器上和/或以一种方式输出图表，使得在图中获得所属图像组元的位置与差异值的局部相关关系并且在需要时进行下述步骤；e)将其它行列的图像组元按事先规定的数量重复d)的步骤，这些行列大体上均平行于规定的第1行列。