[发明专利]生产晶体管的方法有效
申请号: | 99812687.X | 申请日: | 1999-08-13 |
公开(公告)号: | CN1151544C | 公开(公告)日: | 2004-05-26 |
发明(设计)人: | 哈姆特·格吕茨迪克;杰奇姆·谢雷尔 | 申请(专利权)人: | 乌尔苏拉·格吕茨迪克;尤塔·谢雷尔 |
主分类号: | H01L21/266 | 分类号: | H01L21/266;H01L21/74;H01L21/8226;H01L21/761;H01L31/11 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李德山 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及应用一个p-掺杂的半导体基片生产可集成半导体元件,尤其是晶体管或逻辑门的方法。在半导体基片上首先涂覆一掩模,以确定一个由边沿限定界限的窗口。然后通过用能量进行离浮子注入在半导体基片中产生一个n-掺杂的槽,此能量对于在半导体基片的表面上保留一个p-掺杂的内部区域是足够的,并且n-掺杂槽的边缘区域抵达半导体基片的表面。然后形成晶体管或逻辑门的n-掺杂和/或p-掺杂区被带入半导体基片的p-掺杂内部区域。此方法的优点在于不再需要昂贵的外延和隔离过程。在n-掺杂的基片情况下所有的注入被相反形式的代替,即n代替p,并且反之p代替n。 | ||
搜索关键词: | 生产 晶体管 方法 | ||
【主权项】:
1.由一个p-掺杂或n掺杂的半导体基片生产可集成半导体元件的方法,包括步骤:—在半导体基片上涂复一掩模,以规定一个由绕行的边沿限定界限的窗口,—用离子注入法通过掩模用一个能量在p-掺杂的半导体基片中产生一个n-掺杂的槽或在n-掺杂的半导体基片中产生一个p-掺杂的槽,上述能量足够高,使得在半导体基片的表面上保留一个p-掺杂或n-掺杂的内部区域,并且n-掺杂或p-掺杂的槽的边缘区域抵达半导体基片的表面,并且—在p-掺杂或n-掺杂的内部区域中以及在n-掺杂或p-掺杂的槽的边缘区域中产生其它构成半导体元件结构的n-掺杂和/或p-掺杂的区域。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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