[发明专利]多端口器件分析装置和方法以及该装置的校准方法

权利要求书

1、一种用于测试具有多个端子的多端口器件的多端口器件分析装置，包括：

信号源，用于提供一测试信号到受测试的多端口器件(DUT)的一端子；

多个测试端口，用于将多端口DUT的所有端子连接到对应的测试端口；

多个测量单元，用于测量来自与多端口DUT的对应的端子连接的对应测试端口的信号；

一基准信号测量单元，用于测量该测试信号，以获得相对于由该多个测量单元测得的来自测试端口的信号测量值的基准数据；

多个终端电阻器，每个被分配到一个测试端口；

开关单元，用于有选择地将测试信号提供到测试端口之一(输入测试端口)并断开该终端电阻器与该输入测试端口的连接而将该终端电阻器连接到所有其他的测试端口；

其中多端口DUT的参数的获得不需要改变测试端口与DUT的端子间的连接，而由开关单元改变测试端口的选择直到所有测试端口都被分配作为输入测试端口。

2、根据权利要求1的多端口器件分析装置，还包括：

用于获得多端口器件分析装置的误差系数的单元，在测量多端口DUT的参数之前不连接该多端口DUT；及

一个单元，当连接多端口DUT的所有端口到该多端口器件分析装置的相应测试端口时用于测量多端口DUT的参数；并且计算测得的值以及补偿测得参数中的误差系数以获得多端口DUT的真实参数。

3、根据权利要求2的多端口器件分析装置，其中所述的用于获得误差系数的单元激活开关单元，用于选择性地将测试信号提供到输入测试端口而同时提供预定的校准条件到输入测试端口以通过利用相应的测量单元测量来自该输入测试端口的信号获得输入测试端口的误差系数。

4、根据权利要求2的多端口器件分析装置，其中所述的用于获得误差系数的单元激活开关单元，用于选择性地将测试信号提供到输入测试端口而同时提供预定的校准条件到输入测试端口和/或一特殊的测试端口以通过利用相应的测量单元测量来自输入测试端口和该特殊测试端口的信号获得输入测试端口与该特殊的测试端口间的误差系数。

5、根据权利要求2的多端口器件分析装置，其中所述的用于获得误差系数的单元激活开关单元，用于顺序地改变输入测试端口而测量误差系数直到所有的测试端口都被分配作为输入测试端口。

6、根据权利要求2的多端口器件分析装置，其中所述误差系数包括涉及从输入采测试端口到一特殊测试端口的漏信号的第一误差系数，涉及来自输入测试端口的反射信号的第二误差系数，及涉及输入测试端口和该特殊测试端口间的发射信号的第三误差系数。

7、根据权利要求2的多端口器件分析装置，其中所述用于获得误差系数的单元提供预定的校准条件到输入测试端口和/或一特殊测试端口，其中所述预定校准条件包括测试端口的“开路”、“短路”和“负载”。

8、根据权利要求1的多端口器件分析装置，其中所述多端口DUT的参数包括多端口DUT的散射参数(S参数)。

9、根据权利要求1的多端口器件分析装置，其中所述终端电阻器的每一个均设置为多端口器件分析装置和多端口DUT的特征阻抗。

10、一种利用多端口器件分析装置测量多端口器件的参数的方法，包括以下步骤：

(a)在不将受测试的多端口器件(DUT)连接到多端口器件分析装置的测试端口的条件下获得多端口器件分析装置的误差系数；

(b)将多端口DUT的所有端口均连接到多端口器件分析装置的相应测试端口；

(c)通过选择的一测试端口(输入测试端口)提供一测试信号到多端口DUT的端口之一而通过提供在多端口器件分析装置中的终接电阻器终接多端口DUT的其他端口；

(d)利用相应的测量单元经多端口器件分析装置的相应测试端口测量来自多端口DUT的信号；

(e)重复步骤(c)和(d)用于获得多端口DUT的参数而不改变多端口器件分析装置与多端口DUT之间的连接，同时顺序地改变测试端口的选择直到所有测试端口均被分配作为输入测试端口。