[发明专利]评估颗粒状物体质量的装置和方法无效
申请号: | 00107017.7 | 申请日: | 2000-04-24 |
公开(公告)号: | CN1271857A | 公开(公告)日: | 2000-11-01 |
发明(设计)人: | 佐竹觉;池田学;土井贵广;高下悟 | 申请(专利权)人: | 株式会社佐竹制作所 |
主分类号: | G01N21/85 | 分类号: | G01N21/85 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 陈霁,王忠忠 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 评估 颗粒状 物体 质量 装置 方法 | ||
1.用来评估颗粒状物体质量的一种方法,该方法包括以下步骤:
有选择地从上述颗粒状物体的前面和背面照射上述颗粒状物体;
从每个被照射的颗粒状物体的前、后两侧提取一个反射光图像和一个透射光图像;
通过对上述反射光图像和上述透射光图像进行图像处理而获得每个上述颗粒状物体的光学信息;
根据上述光学信息获得上述颗粒状物体的形状信息;
根据上述光学信息和上述形状信息确定每个上述颗粒状物体的质量,上述颗粒状物体的质量包括完整和不完整的颗粒状物体的质量;
计算每一种质量的颗粒状物体的数量,并且获得每一种质量的颗粒状物体相对于颗粒状物体总数的比例;
通过对上述光学信息进行处理制备出每一种质量的上述颗粒状物体的采样图像;以及
同时显示或是打印每一种质量的颗粒状物体各自的数量,每一种质量的颗粒状物体的上述比例,以及颗粒状物体的上述采样图像。
2.按照权利要求1的颗粒状物体质量评估方法,其特征是根据基于各种颗粒状物体的所述比例和总数而计算出的每一种质量的颗粒状物质的相应数量,每一种质量的上述采样图像在布置成一种预定的格式之后被显示或是打印。
3.按照权利要求1或2的颗粒状物体质量评估方法,其特征是进一步包括根据对已知颗粒状物体的质量进行分析来建立颗粒状物体质量评估公式的步骤,将已知质量的颗粒状物体的质量做为目标变量,将从已知质量的颗粒状物体获得的光学信息和形状信息做为解释变量,根据上述颗粒状物体质量评估公式和从中获得的光学信息和形状信息来评估未知质量的颗粒状物体的质量。
4.按照权利要求1或2的颗粒状物体质量评估方法,其特征是上述光学信息中包括颗粒状物体的色彩,饱和度以及密度。
5.按照权利要求4的颗粒状物体质量评估方法,其特征是,包括颗粒状物体的长度,宽度和大小或是面积的上述形状信息是由上述光学信息内部的上述密度获得的。
6.一种用来评估颗粒状物体质量的装置,该装置包括:
用一种可以透射入射光的材料制成的颗粒状物体保持装置;
用来将光照射在由颗粒状物体保持装置所保持的上述每个颗粒状物体的前后两侧的光源装置;
用来为来自或是通过每个上述颗粒状物体的反射光或是透射光形成参照的背景装置;
图像提取装置,用来从每个上述颗粒状物体的前后两侧获得反射光图像和透射光图像以及每个上述颗粒状物体的上述前后两侧之一的倾斜光图像的图像信号;
图像处理装置,将上述图像提取装置获得的上述许多图像信号转换成关于颗粒状物体质量的光学信息,并且将上述光学信息转换成形状信息;
运算和控制装置,它根据上述图像处理装置获得的上述光学信息和上述形状信息来确定每一种质量的颗粒状物体的质量;以及
用来同时显示或是打印由上述运算和控制装置获得的质量评估结果和由上述图像处理装置获得的上述形状信息的指示装置。
7.按照权利要求6的颗粒状物体质量评估装置,其特征是一个上述光源装置包括四个独立的光源,从四个方向上对角地照射上述颗粒状物体,这四个光源同时或是彼此独立地导通或是关断,在上述四个光源按顺序导通时获得多个上述倾斜光图像。
8.按照权利要求6或是7的颗粒状物体质量评估装置,其特征是上述运算和控制装置存储每一种质量的上述颗粒状物体的采样图像,并且根据每一种质量的颗粒状物体的比例和颗粒状物体的总数计算出每一种质量的颗粒状物体的数量,按照上述的计算结果来排列被存储采样的次序,并且将颗粒状物体的质量评估结果和上述排列的采样图像输出到上述指示装置。
9.按照权利要求6或7的颗粒状物体质量评估装置,其特征是上述运算和控制装置存储通过对已知质量的颗粒状物体的质量进行分析而获得的颗粒状物体评估公式,将已知质量的颗粒状物体的质量做为目标变量,将从已知质量的颗粒状物体获得的光学信息和形状信息做为解释变量,通过将从图像处理装置获得的光学信息和形状信息提供给颗粒状物体质量评估公式而获得未知质量的颗粒状物体的质量。
10.按照权利要求6或是7的颗粒状物体质量评估装置,其特征是上述光源装置是一种圆形或是环形的形状。
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