[发明专利]激光的力学参数测量方法及其装置无效

专利信息
申请号: 00112403.X 申请日: 2000-07-15
公开(公告)号: CN1334443A 公开(公告)日: 2002-02-06
发明(设计)人: 李银妹 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G01D21/00 分类号: G01D21/00
代理公司: 中国科学技术大学专利事务所 代理人: 赵乌兰
地址: 230026*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 激光 力学 参数 测量方法 及其 装置
【权利要求书】:

1.一种激光力学参数测量方法,其特征在于将一束连续TEMoo模激光束经过耦合元件射入一个强会聚效果的透镜,产生强光场梯度分布在样品室内形成光阱,移动样品室,使微粒在光阱中沿X-Y平面运动和沿光束方向运动,改变样品室移动的速度,就可根据公式F=6πηrV得出微粒在光阱的作用下通过媒质的临界回复力。

2.一种实现上述激光力学参数测量方法的装置,其特征在于它由循环操作器、激光器、显微镜、CCD摄像头、录像机和监视器构成,循环操作器由样品容器、微流量计、样品池、样品回收池构成,样品池放在样品台上,显微镜的目镜与物镜之间设置有双向分束器由光学耦合器全反射镜和双向分束板构成,录像机的一端与监视器相连,另一端与CCD摄像头相连,CCD摄像头的另一端接入显微镜的多通道接口。

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