[发明专利]成对不对称的扫描体层厚度的设定方法及其设备

权利要求书

1.一种成对不对称扫描体层厚度的设定方法，供在多重检测器的第一检测器排中以第一体层厚度进行扫描，在第二检测器排中以不同于所述第一体层厚度的第二体层厚度进行扫描，包括下列步骤：

移动穿透射线束的位置，在进行扫描的同时保持穿透射线束的宽度不变，使其始终等于所述第一体层厚度的两倍，从而使穿盘射线束移到所述第一和第二检测器排的计数值彼此相匹配的位置，存储此时的检测器排计数值，然后移动穿透射线束的位置，在进行扫描的同时保持穿盘射线束的宽度不变，使其始终等于所述第一和第二体层厚度之和，从而使穿透射线束移到所述第一检测器排的计数值与所述存储的计数值相匹配的位置。

2.如权利要求1所述的成对不对称扫描体层厚度的设定方法，其特征在于，采用X射为所述射线。

3.一种成对不对称扫描体层厚度设定设备，采用一个多重检测器，多重检测器具有第一检测器排和第二检测器排，两检测器排的体层厚度分别为第一体层厚度和第二体层厚度，包括：

第一体层厚度相应计数值的求出装置，用来移动穿透射线束的位置，且进行扫描的同时保持穿透射线束的宽度不变，使其始终等于所述第一体层厚度的两倍，从而使穿透射线束移到所述第一和第二检测器排的计数值彼此相匹配的位置，再存储此时检测器排的计数值；

穿透射线束位置设定装置，用于移动穿盘射线束的位置，在进行扫描的同时保持穿透射线束的宽度不变，使其始终等于所述第一和第二体层厚度之和，从而使穿透射线束移到所述第一检测器排的计数值与所述存储的计数值彼此相当的位置。

4.如权利要求3所述的成对不对称扫描体层厚度设定设备，其特征在于，采用X射线作为所述射线。

5.一种成对不对称扫描体层厚度设定方法，供在多重检测器的第一检测器排中以第一体层厚度进行扫描，在第二检测器排中以不同于第一体层厚度的第二体层厚度进行扫描，包括下列步骤：

移动穿透射线束的位置，在进行扫描的同时保持穿透射线束的宽度不变，使其始终等于所述第一体层厚度的两倍，从而使穿透射线束移到所述第一和第二检测器排的计数值彼此相匹配的位置，存储此时检测器排的计数值，然后移动穿透射线束的位置，在进行扫描的同时保持穿透射线束的宽度不变，使其始终等于所述第一和第二体层厚度之和，从而使穿透射线束移到所述第一检测器排的计数值与所述存储的计数值相匹配的位置；存储此时所述第一和第二检测器排计数值的比值α；且

对扫描对象真正进行扫描之前，求出对应于所述第一检测器排配置的第一控制检测器的计数值和对应于所述第二检测器排配置的第二控制检测器的计数值，并将穿透射线束移到这些计数值的比值β与所述存储的比值α相匹配的位置。

6.如权利要求5所述的成对不对称扫描体层厚度设定方法，其特征在于，采用X射线作为所述射线。

7.一种成对不对称扫描体层厚度设定设备，采用一个具有第一和第二检测器排的多重检测器，包括：

基准比值存储装置，用于存储具有第一体层厚度的所述第一检测器排的计数值与具有不同于所述第一体层厚度的第二体层厚度的所述第二检测器排的计数值的比值α；和

穿透射线束位置设定装置，用于真正对扫描对象进行扫描之前求出对应于所述第一检测器排配置的第一控制检测器的计数值和对应于所述第二检测器排配置的第二控制检测器的计数值，并将穿透射线束的位置移到这些计数值之间的比值β与所述存储的比值α相匹配的位置。

8.如权利要求7所述的成对不对称扫描体层厚度设定设备，其特征在于，用X射线作为所述射线。

9.一种射线体层照相设备，具有一个多重检测器，多重检测器具有第一检测器排和第二检测器排，两检测器排的体层厚度分别为第一体层厚度和第二体层厚度，包括：

第一体层厚度相应的计数值的求出装置，用于移动穿透射线束的位置，在进行扫描的同时保持穿透射线束的宽度不变，使其始终等于所述第一体层厚度的两倍，从而使穿透射线束移到所述第一和第二检测器排的计数值彼此相匹配的位置；存储此时检测器排的计数值；和

穿透射线束位置设定装置，用于移动穿透射线束的位置并进行扫描的同时保持穿透射线束的宽度不变，使其始终等于所述第一和第二体层厚度之和，从而使穿透射线束移到所述第一检测器排的计数值与所述存储的计数值相匹配的位置。