[发明专利]光磁记录装置及其方法无效
申请号: | 00119206.X | 申请日: | 2000-05-14 |
公开(公告)号: | CN1274154A | 公开(公告)日: | 2000-11-22 |
发明(设计)人: | 田中小夜子;铃木誉久 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社 |
主分类号: | G11B11/105 | 分类号: | G11B11/105 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 刘宗杰,叶恺东 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 装置 及其 方法 | ||
1.一种光磁记录装置(20),其特征在于具有:
包含有产生照射至光磁记录媒体(1)上的脉冲化激光光束的激光器(21)的光学头(2);
向所述光磁记录媒体(1)施加磁场用的磁头(4);
生成激光驱动信号(LD)和磁头驱动信号(MD)用的驱动信号生成电路(14);
响应所述激光驱动信号(LD),对所述激光器(21)进行驱动用的激光驱动电路(3);
响应所述磁头驱动信号(MD),对所述磁头(4)进行驱动用的磁头驱动电路(5);
以及对所述激光驱动信号(LD)与磁头驱动信号(MD)间的相位差(δ)进行控制用的相位差控制电路(15)。
2.一种如权利要求1所述的光磁记录装置(20),其特征在于还具有:
对所述光学头(2)给出的光磁信号(MO)的误差进行校正用的误差校正电路(12);
依据由所述误差校正电路(12)给出的误差率(ER),对所述相位差(δ)进行最优化处理用的相位差最优化电路(13)。
3.一种如权利要求2所述的光磁记录装置(20),其特征在于:
所述相位差控制电路(15)使所述相位差(δ)变化预定量;
所述相位差最优化电路(13)包含有:
对误差率(ER)进行检测用的误差率检测电路(131、程序步S5),所述的误差率(ER)是通过所述误差校正电路(12)对按照所述变化着的各相位差(δ)记录和再生的信号的误差进行校正时的误差率(ER);
以及依据所检测出的误差率(ER)确定最优化相位差(δop)用的确定单元(132、133、程序步S9)。
4.一种如权利要求3所述的光磁记录装置(20),其特征在于所述确定单元(132、133)包含有:
对所述检测出的各误差率(ER)和基准误差率(L)进行比较,将比所述基准误差率(L)低的误差率(ER)与所述相位差控制电路(15)给出的相位差(δ)进行对应的比较器(132)。
5.一种如权利要求4所述的光磁记录装置(20),其特征在于所述确定单元(132、133)包含有:
从由所述比较器(132)给出的、比所述基准误差率(L)低的误差率(ER)中检测出最低的误差率,并且将与该最低的误差率相对应的相位差确定为所述最优化相位差(δop)用的最低误差率检测电路(133)。
6.一种如权利要求3所述的光磁记录装置(20),其特征在于:
所述确定单元(程序步S24)在所述检测出的当前误差率(M+1)比前一误差率(M)大时,将与该前一误差率(M)相对应的相位差(δm)确定为最优化相位差(δop)。
7.一种如权利要求6所述的光磁记录装置(20),其特征在于所述相位差控制电路(15)还包含有:
将所述相位差(δ)设定为第一初始相位差(δa)用的单元(程序步S10);
在由所述误差校正电路(12)对按照该第一初始相位差(δa)记录和再生的信号的误差进行校正时,对第一误差率(ERa)进行检测用的单元(程序步S12);
将所述相位差(δ)设定为与所述第一初始相位差(δa)仅相差所述预定量(Tes/n)的第二初始相位差(δb)用的单元(程序步S13);
在由所述误差校正电路(12)对按照该第二初始相位差(δb)记录和再生的信号的误差进行校正时,对第二误差率(ERb)进行检测用的单元(程序步S15);
以及在所述第一误差率(ERa)比所述第二误差率(ERb)小时,仅使所述第一初始相位差(δa)移动所述激光驱动信号(LD)的半个周期用的单元(程序步S17)。
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