[发明专利]波长分离多路组合滤光器及用于该滤光器的玻璃基质无效
申请号: | 00120967.1 | 申请日: | 2000-08-02 |
公开(公告)号: | CN1285667A | 公开(公告)日: | 2001-02-28 |
发明(设计)人: | 罗伯特·W·约翰逊;柳田裕昭;桥本和明 | 申请(专利权)人: | 保谷株式会社;美国保谷公司 |
主分类号: | H04J14/02 | 分类号: | H04J14/02;G02B5/20 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 严舫 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 波长 分离 组合 滤光 用于 玻璃 基质 | ||
1.一种用于WDM滤光器的玻璃基质,其特征在于它具有涂布在玻璃基质表面上的光学多层膜;
所述的玻璃基质是由一种玻璃形成的,该玻璃含有SiO2并在-30℃至+70℃的温度范围内具有平均线性热膨胀系数为100×10-7/K-130×10-7/K。
2.一种用于WDM滤光器的玻璃基质,其特征在于它具有一种涂布在玻璃表面上的光学多层膜,该玻璃基质是由这样的玻璃形成的,该玻璃含有作为必要成份的SiO2、R2O(R:碱金属元素)和TiO2,必要成份的总量不少于60摩尔%。
3.一种用于WMD滤光器的玻璃基质,其特征在于它具有在玻璃表面上涂布的光学多层膜,玻璃基质是由这样的玻璃形成的,该玻璃含有作为必要成份的SiO2、R2O(R:碱金属元素)及TiO2,这些必要成份的每个的用量是大于非必要成份的其余各成份的每个的用量。
4.如权利要求2或3要求保护的玻璃基质,其特征在于其中玻璃含有以摩尔%计算的
SiO2 38-58%,
TiO2 7-30%,
Al2O3 0-12%,以及
R2O的总量 15-40%。
5.如权利要求4要求保护的玻璃基质,其特征在于其中玻璃含有以摩尔%计算的作为R2O的
Na2O 10-25%,和
K2O 4-15%。
6.如权利要求2或3要求保护的玻璃基质,其特征在于其中玻璃含有以摩尔%计算
SiO2 38-55%,
Na2O 13-25%,
K2O 2-15%,
TiO2 10-25%,
Al2O3 0.5-8%。
7.如权利要求2至6中任何一项所述的玻璃基质,其特征在于其中玻璃包括至少一种选自碱土金属氧化物的氧化物R’O和氧化锌。
8.如权利要求7所述的玻璃基质,其特征在于其中玻璃含有,以摩尔%计算,R’O的总量为2%至15%。
9.如权利要求8所述的玻璃基质,其中玻璃包含有作为R’O的
MgO 0-13%,
CaO 0-10%,
SrO 0-8%,
BaO 0-6%,及
ZnO 0-10%。
10.如权利要求7至9中任何一项所述的玻璃基质,其特征在于其中玻璃含有以摩尔%计算的
MgO 1-13%,
ZnO 0.5-10%,及
Sb2O3 0.1%。
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