[发明专利]主观人眼象差测量方法及其测量装置无效
申请号: | 00123571.0 | 申请日: | 2000-08-22 |
公开(公告)号: | CN1338242A | 公开(公告)日: | 2002-03-06 |
发明(设计)人: | 贺吉苍 | 申请(专利权)人: | 贺际明 |
主分类号: | A61B3/00 | 分类号: | A61B3/00;A61B3/02 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 马娅佳 |
地址: | 100021 北京市朝*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 主观 象差 测量方法 及其 测量 装置 | ||
1、一种主观人眼象差测量方法,该方法由以下步骤组成:
a、由阵列光源中随机选择一单位光源发光,照射光通过固定透光视标及其相应光学元件将固定的透光视标成像于人眼眼底,完成光线追踪;
b、显示屏上的视标通过相应光学元件成像于人眼眼底,移动显示屏上的视标与固定视标重合,记录该显示屏视标的位置,完成光线登记;
c、由阵列光源中随机选择另一单位光源发光,照射光通过固定透光视标及其相应光学元件将固定的透光视标成像于人眼眼底,完成光线追踪;
d、移动显示屏视标与固定视标重合,记录该显示屏视标的位置,完成光线登记;
e、将该显示屏视标的不同的位置数据进行分析,通过数值计算方法得出象差数据。
2、如权利要求1所述的一种主观人眼象差测量方法,其特征在于:可在步骤e之前重复进行步骤c和步骤d,得到多个显示屏视标的位置数据,再进行步骤e。
3、如权利要求1所述的一种主观人眼象差测量方法,其特征在于:步骤e中的数值计算方法可为最小平方差分析法。
4、如权利要求2所述的一种主观人眼象差测量方法,其特征在于:重复进行步骤c至步骤d时,可逐一随机点亮阵列光源的每一单位光源。
5、如权利要求1所述的一种主观人眼象差测量方法,其特征在于:在步骤a之前,可用红外光源照射在人眼瞳孔上,通过相应的光学元件将人眼瞳孔和监视光路的同心圆分划板同时成像于电子摄像设备上,通过计算控制设备显示于计算控制设备的第二显示屏上,使人眼瞳孔与同心圆分划板同轴。
6、如权利要求1所述的一种主观人眼象差测量方法,其特征在于:所述的阵列光源可为发光二极管阵列,也可为光纤阵列,还可为液晶显示屏。
7、一种主观人眼象差测量装置,其特征在于:该主观人眼象差测量装置设有光线追踪光路和光迹登记光路,该光线追踪光路的发光源设为与瞳孔面共轭的阵列光源,该阵列光源连接于计算控制设备上,该光路中设有与眼底共轭的固定的透光视标,该透光视标在阵列光源中的随机选择一单位光源的发光照射下通过相应的光学元件成像于人眼的眼底;该光迹登记光路的发光源设为与眼底共轭的显示屏,该显示屏上的视标成像于人眼眼底,该显示屏上的视标与计算控制设备上的移动控制装置驱动连接;该光线追踪光路和该光迹登记光路在到达人眼前重合。
8、如权利要求7所述的一种主观人眼象差测量装置,其特征在于:该主观人眼象差测量装置还设有瞳孔监视光路,该监视光路设有在人眼附近设置的红外光源,该光路上还设有同心圆分划板、连接于计算控制设备的电子摄像设备,同心圆分划板和电子摄像设备的感光面与瞳孔面共轭,人眼瞳孔和同心圆分划板通过相应的光学元件同时成像于计算控制设备的第二显示屏上。
9、如权利要求7所述的一种主观人眼象差测量装置,其特征在于:所述的阵列光源可由10至100个单位光源二维排列组成。
10、如权利要求9所述的一种主观人眼象差测量装置,其特征在于:所述的阵列光源可由13个、21个或37个单位光源二维排列组成。
11、如权利要求7所述的一种主观人眼象差测量装置,其特征在于:所述的阵列光源可为发光二极管阵列,也可为光纤阵列,还可为液晶显示屏。
12、如权利要求7所述的一种主观人眼象差测量装置,其特征在于:所述的每一单位光源在瞳孔面上的通光口径不大于1毫米。
13、如权利要求7所述的一种主观人眼象差测量装置,其特征在于:所述的计算控制设备可为计算机,或单片机,还可为工控机。
14、如权利要求7所述的一种主观人眼象差测量装置,其特征在于:所述的显示屏可为液晶显示屏或小尺寸显示屏。
15、如权利要求7所述的一种主观人眼象差测量装置,其特征在于:所述的移动控制装置可为鼠标器,或操作杆,或遥控器,还可为笔记本式鼠标。
16、如权利要求8所述的一种主观人眼象差测量装置,其特征在于:所述的电子摄像设备可为电子眼,或数码相机,还可为摄象机。
17、如权利要求7所述的一种主观人眼象差测量装置,其特征在于:所述的光迹登记光路在与光线追踪光路重合之前设有与眼底共轭的视力表光标或图象光标。
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