[发明专利]集成光学部件,光头以及光学记录和/或再现装置

权利要求书

1．一种用于光头的集成光学部件，既能与第一光学记录载体相兼容，以便能用第一激光束在第一光学记录载体上记录和/或读取信息，又能与第二光学记录载体相兼容，以便能用第二激光束在第二光学记录载体上记录和/或读取信息，其中第二激光束的波长比第一激光束的短；所述集成光学部件包括：

一个具有开口的封壳，封装有一个光发射器和一个光探测器；

所述光发射器用于从所述的第一激光器和第二激光器分别发射出第一和第二激光束；第一和第二激光束是从相互靠近的发光窗口发出的；

所述光探测器包括多个光电探测器，用以探测从第一光学记录载体反射的第一激光束的反射部分，和从第二光学记录载体反射的第二激光束的反射部分；以及

其中，在所述光探测器的多个光电探测器中，至少有两个光电探测器位于集成光学部件所在的平面内，并处在由所述封壳开口内侧的两点所连成的第一连线的延长线上，其中一点通过出自所述封壳的第一激光束的主激光束，另一点通过出自所述封壳的第二激光束的主激光束。

2．根据权利要求1所述的集成光学部件，其特征在于，还包括一个光反射器，用于将从所述的光发射器发射的第一和第二激光束反射至所述封壳的开口处；

所述的光反射器规定由另两点所连成的第二线，被光反射元件反射的第一激光束的主激光束通过其中一点，被光反射元件反射的第二激光束的主激光束通过另一点，而且所述的第二连线平行于所述的第一连线。

3．根据权利要求1所述的集成光学部件，其特征在于，还包括一个连接所述发光点的第三连线，第三连线平行于所述的第一连线和第二连线。

4．根据权利要求1所述的集成光学部件，其特征在于，还包括一个光路分路器，用于将所述的从第一光学记录载体反射的第一激光束的反射部分分成第一多个光路，而将所述的从第二光学记录载体反射的第二激光束的反射部分分成第二多个光路；

所述的第一光路和第二光路入射到所述的光探测器。

5．根据权利要求4所述的集成光学部件，其特征在于，所述的光路分路器包括一个衍射器，用于分别衍射第一激光束的反射部分和第二激光束的反射部分。

6．根据权利要求4所述的集成光学部件，其特征在于，所述的光路分路器包括一个具有一半透层的光学棱镜。

7．根据权利要求1所述的集成光学部件，其特征在于，还包括一个分光器，用于将从所述光发射器发射的第一激光束分成至少三光束，包括一零级激光束，一正一级激光束和一负一级激光束。

8．根据权利要求7所述的集成光学部件，其特征在于，所述的分光器允许所有的零级激光束充分地通过。

9．根据权利要求7所述的集成光学部件，其特征在于，所述的正和负一级激光束由不是位于所述的第一连线上的所述多个光电探测器中的光电探测器探测，以便于用三激光束法计算出一个跟踪误差信号。

10．根据权利要求1所述的集成光学部件，其特征在于，所述的位于第一连线延长线上的两个光电探测器提供一个探测信号，根据所述第一激光束和第二激光束的反射部分，计算出一个聚焦误差信号。

11．根据权利要求1所述的集成光学部件，其特征在于，所述的位于第一连线延长线上的两个光电探测器提供探测信号，以便用微分三等分法计算出一个聚焦误差信号，用DPD(微分相位探测)法计算出一个跟踪误差信号。

12．根据权利要求1所述的集成光学部件，其特征在于，所述的位于第一连线延长线上的三个光电探测器提供探测信号，以便用傅科法计算出一个聚焦误差信号，用DPD(微分相位探测)法计算出一个跟踪误差信号。

13．根据权利要求1所述的集成光学部件，其特征在于，所述的位于第一连线延长线上的两个光电探测器，探测记录在第一和第二光学记录载体上的信息信号。

14．根据权利要求1所述的集成光学部件，其特征在于，所述的光发射器包括一个双波长半导体激光器二极管，用于发射所述的第一和第二激光束。

15．根据权利要求1所述的集成光学部件，其特征在于，所述的光发射器包括一个用于发射所述的第一激光束的第一半导体激光器二极管，和一个用于发射所述的第二激光束的第二半导体激光器二极管。