[发明专利]薄窗正比管探测器的制作方法无效
| 申请号： | 00135430.2 | 申请日： | 2000-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN1297156A | 公开（公告）日： | 2001-05-30 |
| 发明（设计）人： | 谷正海;毛建萍;张仁健;宫一忠;顾福源 | 申请（专利权）人： | 中国科学院紫金山天文台 |
| 主分类号： | G01T1/18 | 分类号： | G01T1/18;H01J47/06 |
| 代理公司： | 中国科学院南京专利事务所 | 代理人： | 栗仲平 |
| 地址： | 210008*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 正比 探测器 制作方法 | ||
【权利要求书】：
1、一种薄窗正比管探测器的制作方法：包括以下工作步骤：
将聚丙烯薄膜用热顶伸法延伸，使其厚度均匀地拉薄到1μm左右，成为超薄薄膜；
在超薄薄膜上喷镀超薄金属层；
用热溶胶将超薄薄膜紧密地粘接在正比计数管的窗口上；
在正比计数管窗口上设置薄膜支撑网；
将超薄聚丙烯膜上的金属层接地。
2、按照权利要求1所述的薄窗正比管探测器的制作方法，其特征是：在正比计数管窗口上设置薄膜支撑网时，所说的薄膜支撑网采用双层网，其中一个网的线宽为1-0.6mm，每8-12mm设一线；另一个网的线宽为50-70μm，每0.8-1.2mm设一线。
3、按照权利要求2所述的薄窗正比管探测器，其特征是：双层薄膜支撑网中的一个线宽为0.8mm，每10mm设一线，另一个线宽为60μm，每1mm设一线。
4、按照权利要求1或2或3所述的薄窗正比管探测器，其特征是：在超薄薄膜上喷镀超薄金属层时，所说的超薄金属层厚度为100-150A。
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