[发明专利]测量穿过测量管的待测介质的流量的装置有效

专利信息
申请号: 00136612.2 申请日: 2000-12-15
公开(公告)号: CN1299962A 公开(公告)日: 2001-06-20
发明(设计)人: 托马斯·巴蒂迈格 申请(专利权)人: 安德雷斯和霍瑟·弗罗泰克有限公司
主分类号: G01F1/60 分类号: G01F1/60
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李德山
地址: 瑞士*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测量 穿过 介质 流量 装置
【权利要求书】:

1.一种测量在测量管的轴线方向流经测量管的待测介质的流量的装置,该装置具有一种产生磁场的磁性结构、至少一个测量电极和计算/控制单元,该磁场穿过测量管并相对于测量管的轴线基本横着地延伸,该测量电极设置在测量管的侧面区域中并电或电容地连接到待测量的介质,该计算/控制单元应用在测量电极中感应的测量电压提供在测量管中的待测介质的体积流量信息,其中在测量管(2)的上部区域提供至少一个测试电极(6;7),计算/控制单元(8)将测试信号传递到测试电极(6;7),以及计算/控制单元(8)应用该测试信号的响应信号提供关于测量管(2)的填充程度的信息,所说的响应信号是通过所说的测量电极(4;5)接收的。

2.如权利要求1中所述的装置,其中在与第一测量电极(4;5)相对的测量管(2)的区域中提供第二测量电极(5;4)。

3.如在权利要求2中所述的装置,其中两个测量电极(4,5)在测量管(2)的中心区域中在直径上彼此相对着。

4.如权利要求1,2或3所述的装置,其中测试电极相对于两测量电极这样设置:距两个测量电极中的每个测量电极的距离基本相同。

5.如权利要求1,2,3或4所述的装置,其中提供第二测试电极(7;6),该第二测试电极与第一测试电极(6;7)基本在直径上相对着,第一测试电极(6;7)优选设置在测量管(2)的顶点,而第二测试电极(7;6)优选设置在测量管(2)的最低点。

6.如权利要求1,2,3,4或5所述的装置,其中两个测试电极(6,7)中的一个接地。

7.如权利要求1所述的或权利要求2至6中一个或多个权利要求所述的装置,其中测试信号是对称的脉冲。

8.如权利要求1或7述的装置,其中计算/控制单元(8)将在测试电极(7;6)和/或测量电极(6;7)/测量电极(6,7)上的响应信号与测试信号进行相关计算。

9.如权利要求1,7或8所述的装置,其中计算/控制单元(8)通过将在测试电极(6;7)和/或在测量电极(4;5)/测量电极(4,5)上所测量的响应信号与预先确定的基准信号进行比较确定测量管(2)的填充度信息。

10.如权利要求9所述的装置,其中预先确定的基准信号是用测量管(2)确定的填充程度所测定的,并且是相应的特定处理过程参数的函数。

11.如权利要求9或10所述的装置,其中提供用于存储预先确定的基准信号的存储单元(10)。

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