[实用新型]X光分选机无效
申请号: | 00210832.1 | 申请日: | 2000-02-14 |
公开(公告)号: | CN2415855Y | 公开(公告)日: | 2001-01-24 |
发明(设计)人: | 张歌今 | 申请(专利权)人: | 锦州俏牌实业有限公司 |
主分类号: | B07B13/00 | 分类号: | B07B13/00 |
代理公司: | 锦州市专利事务所 | 代理人: | 陈明 |
地址: | 121012 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分选 | ||
本实用新型属于一种粮油加工设备,特别涉及一种去除粮食或油料作物中无机杂质的X光分选机。
在粮食或油料作物的加工生产过程中,由于各种各样的原因,常常会混入一些杂质。如植物秸杆、草屑、砂子、碎玻璃、金属等等。这些杂质的混入直接影响了粮油产品的质量,因此,在生产的过程中要进行去杂处理。对植物秸杆或草屑这类轻杂质,一般采用风选的方法进行处理,通常都能获得比较满意的分选效果。对砂子、碎玻璃、金属这类无机重杂质,单一风选的方法难以取得令人满意的效果,通常采用风力和振动相结合的方法进行分选处理。如本公司申请的中国专利“吸式振动去重杂机”,专利号ZL97231849.6,该机是一种清除谷物中重杂质的专用设备,它是利用谷物与石子、玻璃、金属在比重上的不同,借助于气流的作用,采用振动输送分选的方法,对谷物中的重杂质进行分选处理。该机主要由机架、风罩、分选机体及电动激振器等组成。这种去石机存在的主要问题是,除石不彻底,经过除杂处理后,仍然有一些无机重杂质残留在成品中,这对于粮油产品的深加工具有不良的影响,会严重的影响食品的质量。因此,粮油产品的精选除杂已经成为食品加工中迫切需要解决的一个重要的课题。
本实用新型的目的是克服上述现有技术的不足,解决现有去杂机除杂不彻底的问题,提供一种能够彻底清除粮油物料中无机重杂质的X光分选机。
本实用新型是这样实现的:
它有一个机架,在机架上装有X线发生器、与X线发生器相配的探测采集器和数据处理器,在X线发生器和探测采集器的下面装有杂质去除装置,利用X线发生器发出X线束,在物料经过X线束时,探测采集器就会接收到不同强度的X线信号,数据处理器处理后发出指令,控制杂质去除装置将无机杂质清除,实现清除无机杂质的目的。
本实用新型的优点在于:
1、采用X射线检测无机杂质,由于砂子、玻璃、金属等无机杂质的密度都比粮食、油料、果仁类的物料的密度大,所以,X光透过时的衰减大,探测采集器接收到的信号就弱,因此,能够将无机杂质与有机物料严格的区分开,检测的精确度高,除杂效果好,从而提高了食品的质量。
2、本实用新型在使用的过程中没有振动和噪音,对周围环境无污染;自动化程度高,适合于远距离自动化操作。
附图说明:
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是图1的A-A剖视图。
下面结合附图提供本实用新型的实施例:
如图所示,本实用新型有一个机架1,机架1用型钢焊接制成;在机架1的上部装有均匀布料料斗2,均匀布料料斗2的出料口为一细缝或一列均匀设置的小孔,将被检物料呈帘状均匀的释放出来,使其自由落下;在机架1的下部、均匀布料料斗2的下方有一个接料斗10,用来接收均匀布料料斗2中落下的物料;在机架1上装有X线发生器3、与X线发生器3相配的探测采集器4和数据处理器7,所述的X线发生器3是一个X线球管,该X线球管与医用X线机上使用的X线球管的结构相同,X线球管发出水平扇形X线束,对自由落下的物料进行照射;所述的探测采集器4安装在X线发生器3的对面,用来接收X线发生器3发出的X线,并将其能量数据传送给数据处理器7,由数据处理器7处理后发出指令;上述所说的探测采集器4采用光电二极管矩阵结构,也可以是X光敏元件组成的矩阵,或者采用其他光敏元件,数据处理器7也采用现有技术中已有的结构;在X线发生器3和探测采集器4的下面装有杂质去除装置,所述的杂质去除装置有若干个结构相同的除杂单元,每个除杂单元与均匀布料料斗2的一个出料孔或一小段细缝相对应,以便于对每个出料孔或一小段细缝中排出的物料分别进行处理;上述所说的每个除杂单元都有一个杂质分离收集仓9,在杂质分离收集仓9上有一个杂质吸入管8,杂质吸入管8的截面为矩形,采用钢板制成,杂质吸入管8也可以采用并联的普通钢管制作;杂质吸入管8的管口对准均匀布料料斗2的出料口,与落下的物料相对应,对落下的物料进行处理;所述的杂质分离收集仓9通过负压仓5与风力系统相连接,在负压仓5与杂质分离收集仓9之间还接有由数据处理器7控制的电动阀门6,电动阀门6按照数据处理器7的指令开闭,以实现清除杂质的目的;上述所说的风力系统是一个负压风力系统,以便于将物料中的杂质吸入杂质分离收集仓9中,风力系统还可以是正压风力系统,利用正压风力系统也能够将杂物吹出去,同样可以实现清除杂物的目的。
本实用新型采用X光检测物料中的无机杂质,即由X线发生器3发射出水平扇形X线束,对均匀落下的被检测物料进行照射,通过被检测物料的电信号由探测采集器4接收,并将接收的电信号送到数据处理器7中进行对比处理,由数据处理器7发出指令,控制杂质去除装置的电动阀门6开闭,若物料中含有除有机物(被检测物料)之外的其他无机杂质时,则探测采集器4接收的电信号与初始设置不同,即与参考电平不同,数据处理器7将该电信号与初始设置进行对比后,就会发出指令,对应单元的电动阀门6根据指令开闭,将无机杂质吸入杂质分离收集仓9中,清除物料中的无机杂质。
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