[发明专利]特别是在染料透渗法或磁性法后使用的裂痕检测系统

说明书

本发明涉及利用染料渗透法或磁性裂痕检测的检测系统，它具有照明单元、用于施加检测材料的装置和评估台。

在现有技术中业已公知各种裂痕(crack)检测方法，一般，对于可磁化的检测工件，具体讲是由铁制造的检测工件是用磁性粉末法，在这种情况下，在检测工件的磁场中，磁性染料微粒累积在裂痕等处，并在照明下进行检测。染料经常是发荧光的，并因此改善了对比度。

对于非导磁材料，通常使用所谓“黑色粉末法”，由于利用染料溶液，染料液由于液面现象和毛细现象来累积在裂痕处，并且然后在特定的检测周期中进行检测。这样的方法从EP 0831321中已经公知。

在上述两种方法中，已经使用各种常规灯泡，诸如汞汽灯，气体放电灯，闪光灯作为照明灯具，这特别是因为所使用的特别活泼的荧光染料在紫外光(UV)或在可见光谱的兰光区有最大的激发。常规的灯泡，特别是那些具有热发射极的灯泡都经受严重的老化。甚至在点亮几个小时后，这种灯泡的紫外成分就已经大大都降低了。具体地讲，因为对于荧光激发需要有灯泡的紫外成分，在已知的裂痕检测系统的情况下，灯泡的功率必须代价高昂地进行监视和重新调整。不断改变照明光的强度可以引起在当前通用的经图象处理的光检测法中的大量错误显示，由于这个原因灯泡的监视是昂贵的。因此，例如从DE-A-4013133．5裂痕检测系统中用灯泡检查的系统也已经公知。

因此，本发明的一个目的是创造一种具有成本较低的灯泡监视的裂痕检测系统。

本发明的这个目的是利用将发光二极管(LED)作为照明单元实现了裂痕检测系统。

从各个从属权利要求使本发明有进一步的改进。

按照本发明下面的各个优点和其它优点是由此予以实现的：LED没有老化现象，这也就是说，发射的光仍然保持恒定并且发射光谱不经受漂移；这也就是说，可以消除前面所要求的昂贵灯泡监视和对灯泡的重新调整；并且该系统是按显著简化的方式实现的。

LED是小体积的并且还可以被安装在难以接近的场所。

LED发射少量的热量，结果可以消除冷却测量或别的预警措施，而这些措施在使用灯泡的情况下为了避免烧毁则是需要的。

由于LED的发射光，LED可以在特定吸收波长下激发染料的荧光／磷光，结果在使用不同染料的情况下，各种染料都可以个别地激发。例如，如果部件数量已经加有一种特定的染料，裂痕检测材料的染料具有不同的荧光波长，并且为了区别待检测的各部件的目的，两者都将被光检测系统进行检测。

LED可以容易地光耦合到光传导部件，而光传导部件可以容易地导向难以接近的场所。

使用LED的优点是它发射从200到970nm(纳米)范围的光，因为在这个范围的光将被染料吸收。

有益的是LED的电压可以进行调制，因为通过处理器可以由此进行改善了的信号处理。

LED可以被光耦合到在系统中传导照明光的光传导部件。

在本发明的一个具体实施例中，可能使得利用一个分光器，该分光器分路来自一个光源的光，并因此允许对于不同光出口仅使用一个光源，结果其能够消除对多个灯泡的控制和维护等等，或者限制为仅控制一个单一的光源。

该方案有益的是，如果裂痕检测系统具有用于控制光图象处理的各装置的处理器，所述处理器还控制LED的电源。

借助于一个优选实施例和借助于附图，对本发明进行更详细地解释，但本发明并不是只限于该实施例，其中各附图是：

图1a表示裂痕检测方法流程的示意图；

图1b表示用于实现如图1a所示的方法的按照本发明的裂痕检测系统的第一实施例；

图2表示按照本发明的磁性粉末法的裂痕检测系统的第二实施例。

第一示例性实施例，利用染料渗透(penetration)法的裂痕检测系统

如图1a所示，在利用染料渗透法的裂痕检测方法的情况下，大多数情况下，一个非铁磁性检测工件，例如铝或镁工件，或者别的陶瓷工件被清洗、如合适的话被酸洗(pickle)和被干燥，然后利用检测材料进行处理，它也称为染料渗透剂。经过一个特定时间以后，过量的染料渗透剂被去除，对工件进行中间清洗并然后利用显影液(developing solution)进行处理。在显影时间以后，如果适合，工件被进行干燥和探查，并且作出对工件的缺陷的报告，如果适合，该报告还形成文件归档。