[发明专利]沟槽式双扩散金属氧化物半导体器件及其制造方法无效
申请号: | 00804475.9 | 申请日: | 2000-03-01 |
公开(公告)号: | CN1163973C | 公开(公告)日: | 2004-08-25 |
发明(设计)人: | 理查德A·布兰查德 | 申请(专利权)人: | 通用半导体公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L33/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 方挺;余朦 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 沟槽 扩散 金属 氧化物 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于通用半导体公司,未经通用半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/00804475.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体元件及其制造方法
- 下一篇:半导体器件及其制造方法
- 同类专利
- 专利分类