[发明专利]有机电致发光器件及其制造方法有效
申请号: | 00805595.5 | 申请日: | 2000-11-23 |
公开(公告)号: | CN1345469A | 公开(公告)日: | 2002-04-17 |
发明(设计)人: | P·C·渡恩埃维德;C·D·罗兰德瑟;J·J·M·维勒加尔 | 申请(专利权)人: | 皇家菲利浦电子有限公司 |
主分类号: | H01L51/20 | 分类号: | H01L51/20;H01L27/15;H01L51/40 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王景朝,罗才希 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 有机 电致发光 器件 及其 制造 方法 | ||
本发明涉及有至少一个电致发光元件的有机电致发光器件,所述元件包括第1和第2电极,位于其间的带有规定图形、并由流体层制成的有机电致发光层。器件还有容纳流体层的浮雕图形,由流体层能制成有规定图形的有机电致发光层。
本发明还涉及这种有机电致发光器件的制造方法。
通常,有机电致发光(EL)器件包括至少一个空穴注入电极(阳极),一个电子注入电极(阴极),和位于电极之间的包含有机EL材料的EL层。若电极上加适当的电压,有机EL层会发光。用不同的有机EL材料能改变发射光的颜色。
有机EL器件能用作光源,特别是用作有大表面积的光源。有机EL器件还能用作黑白显示器或彩色显示器,如背面照明、静止图像显示器、分段显示器、无源或有源型矩阵显示器。
欧洲专利申请EP-A-0880303中公开了本文第一段所述的有机电致发光器。该文献公开的全色有机矩阵EL显示器的发光层是以溶液用喷墨打印法制成的。EL显示器有多个堤埂,用于防止溶液进入不需要的区域内,并用于对发光层构图。EL矩阵显示器跨越任何特定象素的发光层的发光强度,对肉眼而言都大致是均匀的,该发光层被认为有优异至极优异的性能。
本发明的发明人发现,EP-A-0880303公开的矩阵EL显示器有由溶液制成的多个发光层,采用多个堤埂防止溶液进入不需要的区域中,器件的使用寿命极短。
本发明的目的是,提供在这方面有所提高的有机电致发光器件。具体来说,本发明的目的是选择使用寿命延长的本文开头所述类型的EL器件。
为达到此目的,采用本文开头所述类型的有机电致发光器件,其特征是,电致发光层的厚度基本上是均匀的,其均匀程度基本上要使其厚度与该有机电致发光层的最小厚度偏差在20%之内的发光层比例,或者,其厚度与该有机电致发光层的最大厚度偏差在20%内的发光层的比例至少是0.55。
如果按本发明,该比例选为至少是0.55,就能基本上延长包括所述EL层的EL器件的使用寿命。
如果所述比例至少是0.60,或0.65,其使用寿命更长,所述比例优选至少是0.70,0.8更好,至少0.90或0.95最好。
所述比例是EL层厚度均匀性的度量,总范围是0.0至1.0。若比例是1.0,那说明EL层厚度完全一致。从EL层的厚度剖面可以确定该比例。用本行业技术人员公知的方法按常规测量其厚度剖面。
按本发明典型例的EL器件,包括旋涂的聚对苯乙烯EL层,该EL层用高5μm节距为300μm的浮雕图形构图,其中,厚度与最小膜厚偏差在20%以内的EL层的比例是0.70,器件的使用寿命与作为参考的EL器件(其它条件相同,只是没有浮雕图形的EL矩阵显示器)使用寿命基本相同,具体说,参考器件的EL层的比例是1.0。
本发明的基础是,认识到浮雕图形对EL器件的使用寿命造成负面影响。本发明的另一基础是认识到浮雕图形与流体层之间的相互影响,流体层通常是凹凸形,从流体层制造EL层的工艺过程中,流体层的凹凸形基本上转移到EL层上。结果,EL层厚度不均匀。本发明的另一基础是,认识到EL层厚度不均匀程度是对器件使用带来负面影响的主要因素。甚至造成发射光强度不均匀的厚度变化肉眼无法识别时,该厚度变化对使用寿命的负面影响也是惊人的,而且,在显微镜下检查时,这种EL层的外观也极好,没有看到破裂之类的缺陷。
因为本发明范围内厚度不均匀性对特性和某些限制不能说不严重,因此发明人认为厚度不均匀的负面影响会造成本文开头所述类型的EL器件的发光强度与1/tn成正比,式中t是EL层的厚度,n的数量是3至6,而使用寿命大致与发光强度成反比。这种紧密的依赖关系表明,厚度增大10%,发光强度就减小25%(n=3)至42%(n=6)。
本发明人发现,EL层的厚度不均匀程度与所用浮雕图形的高度密切相关。把这一发现放到本文开头所述类型的有机EL器件中用的技术中,即通过选择浮雕图形的高度,使电致发光层的厚度均匀度基本上处于上面限定的范围内。比例至少在0.60或0.65,优选至少0.7,更优选至少0.8,最优选至少0.90或0.95。
通过把该EL器件的使用寿命与上述作为参考的EL器件的使用寿命对比,从EL器件的使用寿命直接评估EL层的厚度均匀性。如果EL器件的使用寿命基本上与作为参考的EL器件的使用寿命相同,则EL层的厚度基本均匀。
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