[发明专利]光记录方法和光记录介质有效
申请号: | 00805674.9 | 申请日: | 2000-05-11 |
公开(公告)号: | CN1347553A | 公开(公告)日: | 2002-05-01 |
发明(设计)人: | 信国奈津子;堀江通和 | 申请(专利权)人: | 三菱化学株式会社 |
主分类号: | G11B7/0045 | 分类号: | G11B7/0045;G11B7/006;G11B7/24;B41M5/26 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 邹光新,张志醒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 方法 介质 | ||
1.一种光记录方法,通过把光照射到记录介质上,以多个记录标记长度来记录标记长度调制信息,该光记录方法包括的步骤是:
当一个记录标记的时间长度表示为nT时(T是参考时钟周期,小于等于25ns,而n是一个大于等于2的自然数),
把该记录标记的时间长度nT以下面的顺序分割成
η1T,α1T,β1T,α2T,β2T,…,αiT,βiT,…,αmT,βmT,η2T
(m是脉冲分割数;∑i(αi+βi)+η1+η2=n;αi(1≤i≤m)是大于0的实数;βi(1≤i≤m-1)是大于0的实数;βm是大于等于0的实数;η1和η2是介于-2和2之间的实数);
在αiT(1≤i≤m)的时间周期照射具有记录功率Pwi的记录光;并且
在βiT(1≤i≤m-1)的时间周期照射具有偏置功率Pbi的记录光,偏置功率Pbi<Pwi且Pbi<Pwi+1;
其中,对于至少一个记录标记的时间周期来说,脉冲分割数m大于等于2,而对于所有记录标记的时间长度来说,它满足n/m≥1.25。
2.根据权利要求1的光记录方法,其中βi(1≤i≤m-1)介于0.5-2.5之间。
3.根据权利要求1或2的光记录方法,其中对于所有记录标记的时间长度来说,αiT(1≤i≤m)的平均值为3纳秒或更大,βiT(1≤i≤m-1)的平均值为3纳秒或更大。
4.根据权利要求1-3任意之一的光记录方法,其中对于所有记录标记的时间长度来说,对于每一个i,αiT≥3纳秒(1≤i≤m)且βiT≥3纳秒(1≤i≤m-1)。
5.根据权利要求1-4任意之一的光记录方法,其中对于所有记录标记的时间长度来说,满足n/m≥1.25。
6.根据权利要求1-5任意之一的光记录方法,其中αi+βi(2≤i≤m-1)或βi-1+αi(2≤i≤m-1)取值为1.5,2或2.5。
7.根据权利要求1-5任意之一的光记录方法,其中对于具有不同n的至少两个记录标记来说,相同的脉冲分割数m被使用,并且至少αi(1≤i≤m)、βi(1≤i≤m)、η1、η2、Pwi(1≤i≤m)和Pbi(1≤i≤m)之一与至少两个记录标记之任意一个彼此不同。
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