[发明专利]光学可变防伪标志无效
| 申请号： | 00808888.8 | 申请日： | 2000-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN1355745A | 公开（公告）日： | 2002-06-26 |
| 发明（设计）人： | 弗兰克·帕特卡默 | 申请（专利权）人： | WHD电子检验技术有限公司 |
| 主分类号： | B41M3/14 | 分类号： | B41M3/14;B42D15/00;B42D15/10;D21H21/48;G07D7/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 朱登河,顾红霞 |
| 地址： | 德国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学 可变 防伪 标志 | ||
【权利要求书】：
1.光学可变防伪标志，具有衍射结构，由一种导电聚合物和至少一个载体薄膜(1)、一个保护层(7)、一个漆层(3)和一个反射层(4)组成，其特征在于，所述导电聚合物是一种安排在不同层次上的聚乙烯二羟噻吩聚苯磺酸盐(PEDT/PSS)。
2.权利要求1所述的光学可变防伪标志，其特征在于，PEDT/PSS在防伪标志的不同层次上构成功能结构。
3.权利要求1和2所述的光学可变防伪标志，其特征在于，PEDT/PSS的结构和反射层(4)的功能结构(6)相互在图形上或者通过跨接导电区之间的间断。在功能上扩展为可检验的整体。
4.权利要求1至3之一或多个所述的光学可变防伪标志，其特征在于，PEDT/PSS敷设在载体薄膜(1)上作为至少一种相关联的面。
5.权利要求1至4之一或多个所述的光学可变防伪标志，其特征在于，PEDT/PSS敷设在载体薄膜(1)上，作为一种通过至少一种线样间断分布的面。
6.权利要求1至5之一或多个所述的光学可变防伪标志，其特征在于，PEDT/PSS敷设在载体薄膜(1)上作为至少一种线。
7.权利要求1至6之一或多个所述的光学可变防伪标志，其特征在于，PEDT/PSS点状地敷设在载体薄膜(1)上。
8.权利要求1至7之一或多个所述的光学可变防伪标志，其特征在于，PEDT/PSS优选地按照CPP105公式应用。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于WHD电子检验技术有限公司，未经WHD电子检验技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/00808888.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
