[发明专利]单光子发射计算机处理的X射线断层摄影术系统无效
申请号: | 00808935.3 | 申请日: | 2000-04-14 |
公开(公告)号: | CN1360680A | 公开(公告)日: | 2002-07-24 |
发明(设计)人: | 杰克·E·朱尼 | 申请(专利权)人: | 杰克·E·朱尼 |
主分类号: | G01T1/166 | 分类号: | G01T1/166 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李德山 |
地址: | 美国密*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光子 发射 计算机 处理 射线 断层 摄影术 系统 | ||
1.一种单光子发射计算机处理的X射线断层摄影术系统,其用于产生多个X射线断层摄影图象,该类型的图象代表发射光子的放射性同位素的三维分布,所述系统包括:
一底座,其包括一患者支架,用于支持患者以使患者的一部分位于视场内,确定一通过所述视场的纵轴;
一邻近所述视场设置的检测器组合件,所述组合件包括光子响应检测器,所述检测器为伸长的条带,其中心轴通常布置成平行于所述纵轴,所述检测器可操作来检测光子是否撞击到该检测器上,所述检测器还包括确定所检测到的光子在沿所述伸长条带长度上位置的装置;
一位于所述视场和所述检测器之间的光子阻挡件,所述阻挡件带有孔隙槽,用于使与所述孔隙槽对齐的光子通过,所述槽通常平行于所述纵轴,通过所述孔隙的来自检测器的响应线被限定;
位移装置,用于彼此相对移动所述检测器组合件或者移动所述光子阻挡件,从而使所述孔隙相对于所述检测器移动,而且所述响应线扫过至少一部分所述视场。
2.根据权利要求1所述的系统,还包括准直组合件,所述准直组合件包括至少两个空间隔开的由光子衰减材料制作的准直瞄准板,所述准直瞄准板中的每个都布置在所述检测器和所述视场之间。
3.根据权利要求2所述的系统,其中所述准直瞄准板布置在所述光子阻挡件和所述检测器之间。
4.根据权利要求2所述的系统,其中可透过射线的材料布置在所述瞄准板之间的空间内。
5.根据权利要求2所述的系统,其中所述准直瞄准板通常相互平行并且通常垂直于所述纵轴。
6.根据权利要求1所述的系统,其中可操作所述位移装置以相对于所述检测器组合件移动所述光子阻挡件。
7.根据权利要求1所述的系统,其中所述纵轴通常是垂直的,并且所述患者支架包括可调节座椅以及相对于所述视场移动所述座椅的装置。
8.根据权利要求1所述的系统,其中所述伸长的检测器包括固态检测器,该固态检测器具有多个沿检测器长度设置的多个固态检测器元件,其中每个元件都可操作来检测是否有光子撞击所述元件。
9.根据权利要求1所述的系统,其中所述伸长的检测器包括一由闪烁材料制成的条带,其具有第一和第二端,所述条带还具有一前表面和一后表面,该前表面朝向所述视场以接收光子,该后表面背离所述视场,所述闪烁材料可操作以当光子撞击所述材料时产生闪光。
10.根据权利要求9所述的系统,其中所述伸长的检测器还包括一第一光检测器和一第二光检测器,该第一光检测器邻近所述闪烁材料的第一端设置,该第二光检测器邻近所述闪烁材料的第二端设置,所述光检测器可操作以当光子撞击所述材料时检测所述闪烁材料产生的所述闪光。
11.根据权利要求9所述的系统,所述伸长的检测器还包括光子衰减材料制成的掩模,其覆盖在所述闪烁材料的所述前表面的一部分上,以使所述表面的垂直条带不被所述掩模覆盖。
12.根据权利要求9所述的系统,其中所述闪烁材料的所述前表面的宽度小于所述后表面的宽度,从而使所述闪烁材料通常具有一梯形截面。
13.一种单光子发射计算机处理的X射线断层摄影术系统,其用于产生多个X射线断层摄影图象,该类型的图象代表发射光子的放射性同位素的三维分布,所述系统包括:
一底座,其包括一患者支架,用于支持患者以使患者的一部分位于视场内,确定一通过所述视场的纵轴;
至少一部分围绕所述视场的检测器组合件,所述组合件包括多个光子响应检测器,所述光子响应检测器沿所述组合件被隔开,每个检测器包括伸长的条带,其中心轴通常布置成与所述纵轴平行,每个检测器可操作以检测光子是否撞击到所述检测器上,每个检测器还包括确定所检测到的光子在沿所述伸长条带长度上位置的装置;
一位于所述视场和所述检测器之间的光子阻挡件,其沿所述阻挡件有多个间隔开的孔隙槽,用于使与所述孔隙槽对准的光子的通过,所述槽中的每一个都通常平行于所述纵轴,作为所述检测器中每个检测器的响应线,被限定为来自所述检测器和通过最近的孔隙;以及
位移装置,用于相对于所述检测器组合件移动所述光子阻挡件或相对于所述光子阻挡件移动所述检测器组合件,以使所述孔隙相对于所述检测器设置,而且所述响应线扫过至少一部分所述视场。
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