[发明专利]光盘、光盘装置以及光盘的读出方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种通过让激光照射光盘介质进行信息写入的光盘以及光盘装置。

背景技术

近年来，光盘装置作为写入、读出大容量数据的方式获得了广泛的开发，希望达到更高存储密度，这其中的一种方式就是利用了结晶-非结晶之间的可逆的状态变化的相变型光盘装置。

在相变化型光盘装置中，通过激光照射衬底上的存储薄膜，使其加热升温，在结构上引起结晶学上的相变化，进行信息的写入与删除。通过采用将结晶部非晶化的峰值功率和将非晶部结晶化的偏置功率这两种功率，让半导体激光照射光盘介质，在光盘介质上形成标记(非晶部)、夹持标记的空格(结晶部)。所写入的标记和空格，反射率不同，由聚焦在光盘上的光点将上述标记和空格的反射率的不同作为信号检测出来，读出信息。

这些标记和空格用于在光盘上的引导槽的凸部和凹部的两方的轨道上写入的凹凸存储技术中。

在光盘介质上，预先在生产工厂，与引导槽同时每隔一定间隔以凹凸的凹坑形成表示光盘上的位置(地址)的地址信息(预刻凹坑地址)。在地址区域，由有无凹坑和其长度的变化来表现。

现有的光盘装置的构成如图2所示。

在图2中，201表示光盘、202表示半导体激光器、203表示将半导体激光器发射的光束变换成平行光束的准直透镜，204表示分束器、205表示将光束聚集在光盘表面上的聚光装置，206表示将光盘反射衍射后的光束聚集在光检测装置上的聚光透镜，207表示接收聚光透镜所聚集的光的光检测装置，208表示对光检测装置的输出电压进行四则运算的读出信号运算装置，209表示将光点在光盘表面上进行焦点位置控制的聚焦控制装置，210表示将光点在光盘的轨道上进行位置控制的跟踪控制装置，211表示移动聚光装置的执行机构，212表示驱动半导体激光器的激光驱动装置，215表示信号处理部。

发明内容

但是，在现有的构成中，当光盘从单面向多个信息面进行信息的写入、读出时，要读出第2层(内层)中预先设置的地址时，到达第2层的光束的光量，由于第1层(表面层)的吸收与反射而产生损耗，所以与透过第1层的光的透过率成正比。

到达第2层的光，由第2层的预刻凹坑地址反射、衍射，再次透过第1层，到达光检测装置。到达光检测装置的光束的光量，与第1层的透过率的平方和第2层的反射率成正比。

例如，第1层的透过率为50％时，到达第2层的光是在透过第1层在第2层衍射，再次透过第1层返回到光检测装置上的光量，如果以第1层的光量为1，则为1×0.5×0.5×R2＝0.25×R2。式中R2为第2层的反射率。在具有第1层和第2层的存储层的写入标记和空格的反射率差(ΔR)相等的光学特性的光盘中，由预刻凹坑衍射的光返回到光检测装置上的光量，依赖于第1层的透过率的平方和第2层的反射率，当第1层的透过率小，或者第2层的反射率小的情况下，第1层和第2层的预刻凹坑地址的信号幅度上产生差，要正确读出第2层的预刻凹坑地址是困难的。

本发明正是解决上述课题的发明，其目的在于由聚焦状态判定装置检测出光点聚焦的存储层，由信号品质改善装置改善读出信号品质获得对应于光点聚焦的存储层的最优信号品质，并且改善第2层的预刻凹坑地址的读出信号特性。

为解决上述问题，本发明的光盘，是具有多个信息面、以各信息面形成为螺旋状或者同心圆状的凹部和在所述凹部之间的凸部两方作为存储轨道、预先形成表示光盘上的位置等的识别信号、利用通过光束照射改变局部的光学常数或者物理形状写入信息信号的光盘，其特征是，所述识别信号由光学上的深度或者高度在多个信息面上不相同的凹凸状的预刻凹坑所构成。

又，本发明的光盘装置，其特征是包括具有多个信息面的光盘、驱动半导体激光器的激光驱动装置、在所述光盘面上聚焦照射由所述激光驱动装置所驱动的半导体激光的输出光的光束的聚焦装置、控制由所述聚焦装置所聚焦的光束的聚焦点在所述光盘面上的焦点位置的聚焦控制装置、控制由聚焦装置聚焦的光束的聚焦点在所述光盘面内的轨道上的位置的跟踪控制装置、接收所聚焦的光束在所述光盘面上的反射光的光检测装置、检测在所述光盘的多个信息面上照射的光束的聚焦状态的聚焦状态检测装置，根据所述聚焦状态检测装置的检测值控制激光器驱动装置，针对各所述光盘的多个信息面设定光束在读出时的发射光量。