[发明专利]变形检测装置

权利要求书

1.用于检测一个元部件(1)的各种不同的状态，如变形状态、运动和载荷状态的装置，它有一个发送器(2)和一个接收器(3)，它们是相互独立地，彼此间隔开地布置在至少一个元部件上，同时还有一个分析处理单元(4)，其特征在于，发送器(2)发射出一种电磁波或者一种聚焦的声波或者一种聚焦的基本粒子射线束至接收器(3)。

2.按权利要求1所述的装置，其特征在于，发送器(2)和接收器(3)各自通过一个固定座(12，12’)这样布置在元部件(1)上，从而使元部件(1)的变形等同于电磁波或者光束(5)在接收器(3)上的位置偏移。

3.按权利要求1或者2所述的装置，其特征在于，在光束的光径之内至少布置有一个反射器或者一个反射面(6)。

4.按上述权利要求之一所述的装置，其特征在于，光束(5)通过反射器或者反射面(6)向接收器(3)反射。

5.按上述权利要求之一所述的装置，其特征在于，反射器(6)经由固定座(12)与元部件连接。

6.按上述权利要求之一所述的装置，其特征在于，接收器(3)具有一个如同一个相敏(PSD)检测装置或一个图形处理元件那样的光敏表面。

7.按上述权利要求之一所述的装置，其特征在于，光敏表面至少具有1000d的分辨能力。

8.按上述权利要求之一所述的装置，其特征在于，发送器(2)至少发射出如一种激光那样的光束(5)。

9.按上述权利要求之一所述的装置，其特征在于，发送器(2)，接收器(3)和反射器(6)都布置在一个柔性的外壳(7)里。

10.按上述权利要求之一所述的装置，其特征在于，发送器(2)和接收器(3)都布置在反射器或反射表面(6)对面的一个公共的外壳面(8’)上。

11.按上述权利要求之一所述的装置，其特征在于，至少有一个半透明薄层(9)布置在从发送器至接收器的光径之内。

12.按上述权利要求之一所述的装置，其特征在于，发送器(2)和/或接收器(3)设计成圆形的或者长方形的。

13.按上述权利要求之一所述的装置，其特征在于，外壳(7)设计成圆形的、长方形的或者钻孔芯形状的。

14.按上述权利要求之一所述的装置，其特征在于，为接收器(3)或者相敏(PSD)检测装置配置有一个分析处理逻辑电路用于确定元部件(1)的变形。

15.按上述权利要求之一所述的装置，其特征在于，发送器(2)和接收器(3)一起通过一个固定座(12’)或者两个不同的固定座(12，12’)，而反射器(6)则与此独立地并与发送器有间距地通过另外一个固定座都布置在一个公共的外壳(7)里面的元部件(1)上。

16.用于检测元部件(1)的各种不同状态，如变形状态、运动、载荷状态的装置，它具有一个发送器(2)和一个接收器(3)，它们相互独立地，彼此间隔地布置在至少一个元部件上，同时还有一个分析处理单元(4)，其特征在于，发送器(2)和接收器(3)一起布置在一块板(20)上，该板通过至少一个夹紧元件(21)夹紧在元部件(1)上，其中，夹紧元件(21)具有两个尖的或者圆的支承部分(22，22’)以及至少一个与板对应的孔(23)。