[发明专利]绝对湿度传感器无效
申请号: | 00814589.X | 申请日: | 2000-12-12 |
公开(公告)号: | CN1382255A | 公开(公告)日: | 2002-11-27 |
发明(设计)人: | 李敦熙;洪炯基 | 申请(专利权)人: | LG电子株式会社 |
主分类号: | G01N27/18 | 分类号: | G01N27/18 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 李晓舒,魏晓刚 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 绝对湿度 传感器 | ||
1.一种绝对湿度传感器,包括:
一具有腔体的基片;
一形成于该基片上的隔膜;
一形成于该隔膜上的电阻器;
形成于该隔膜上的电极焊点,用于与电阻器电连接;以及
一钝化膜,该钝化膜形成于电阻器的整个表面上,以覆盖该电阻器。
2.根据权利要求1所述的绝对湿度传感器,其中,该隔膜由SiO2、Si3N4、SiOxNy和SiO2/Si3N4/SiO2中的任意一种形成。
3.根据权利要求1所述的绝对湿度传感器,其中,电阻器由Ti、Pt、Ni、Ni-Cr和VO2中的一种或多种形成。
4.根据权利要求1所述的绝对湿度传感器,其中,钝化膜由SiO2、Si3N4、SiOxNy、磷硅酸盐玻璃和聚酰亚胺中的任意一种形成。
5.根据权利要求1所述的绝对湿度传感器,还包括一导热膜,该导热膜形成于钝化膜的形成有电阻器的区域上。
6.根据权利要求5所述的绝对湿度传感器,其中,导热膜由Al和Au中的任意一种形成。
7.一种绝对湿度传感器,包括:
一基片,该基片在预定区域内具有第一腔体和第二腔体;
一形成于该基片上的隔膜;
一湿度感测元件,该湿度感测元件形成于隔膜上形成有第一腔体的位置处,用于检测空气中的湿度,该湿度感测元件具有可随所检测的湿度而变化的电阻值;以及
一温度补偿元件,该温度补偿元件形成于隔膜上形成有第二腔体的位置处,用于补偿湿度感测元件的电阻值。
8.根据权利要求7所述的绝对湿度传感器,其中,湿度感测元件和温度补偿元件包括:
一电阻器,该电阻器形成于隔膜上;
电极焊点,该电极焊点形成于隔膜上,用于与电阻器电连接;以及
一钝化膜,该钝化膜形成于电阻器的整个表面上,以覆盖该电阻器。
9.根据权利要求8所述的绝对湿度传感器,其中,隔膜由SiO2、Si3N4、SiOxNy和SiO2/Si3N4/SiO2中的任意一种形成。
10.根据权利要求8所述的绝对湿度传感器,其中,电阻器由Ti、Pt、Ni、Ni-Cr和VO2中的任意一种或多种形成。
11.根据权利要求8所述的绝对湿度传感器,其中,钝化膜由SiO2、Si3N4、SiOxNy、磷硅酸盐玻璃和聚酰亚胺中的任意一种形成。
12.根据权利要求7所述的绝对湿度传感器,还包括一导热膜,该导热膜形成于钝化膜的形成有电阻器的区域上。
13.根据权利要求12所述的绝对湿度传感器,其中,导热膜由Al和Au中的任意一种形成。
14.根据权利要求7所述的绝对湿度传感器,还包括一封盖,该封盖形成于湿度感测元件和温度补偿元件上,以覆盖该湿度感测元件和温度补偿元件的整个表面,用于将湿度感测元件和温度补偿元件彼此分离并将它们密封于其中。
15.根据权利要求14所述的绝对湿度传感器,其中,在封盖的中心区域中形成保护膜,以分离和密封该湿度感测元件和温度补偿元件。
16.根据权利要求14所述的绝对湿度传感器,其中,在封盖的形成有湿度感测元件的区域内形成一个孔,以通过外部湿气。
17.根据权利要求14所述的绝对湿度传感器,其中,该封盖由硅制成。
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