[发明专利]磁性记录介质有效

专利信息
申请号: 01101686.8 申请日: 2001-01-18
公开(公告)号: CN1308318A 公开(公告)日: 2001-08-15
发明(设计)人: 末冈雅则;佃明光;伊藤伸明 申请(专利权)人: 东丽株式会社
主分类号: G11B5/62 分类号: G11B5/62;G11B5/73;C08J5/18
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 魏金玺,杨丽琴
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 磁性 记录 介质
【权利要求书】:

1.一种磁性记录介质,该磁性记录介质是在以芳香族聚酰胺作为主成分的基膜的至少一个面上直接设置磁性层的磁性记录介质,其特征在于,磁性层表面上的高度10nm以上的突起个数Na(10)(个/mm2)、高度50nm以上的突起个数Na(50)(个/mm2)及基膜的磁性层设置侧的同一表面上的高度10nm以上的突起个数Na(10)’(个/mm2)同时满足下式,

2×104≤Na(10)≤2×107

0≤Na(50)≤5×104

-0.9≤(Na(10)-Na(10)’)/Na(10)’≤0。

2.权利要求1所述的磁性记录介质,其特征是上述Na(10)满足下式,

2×104≤Na(10)≤5×106

3.权利要求1或2所述的磁性记录介质,其特征是上述的Na(10)及Na(10)’同时满足下式,

106≤Na(10)≤5×106

-0.7≤(Na(10)-Na(10)’)/Na(10)’≤0

4.权利要求1~3中任何一项所述的磁性记录介质,其特征是在与上述基膜的磁性层设置面相反侧的表面上,设置背涂层,背涂层表面上的高度50nm以上的突起个数Nb(50)(个/mm2)及高度100nm以上的突起个数Nb(100)(个/mm2)同时满足下式,

2×104≤Nb(50)≤5×106

0≤Nb(100)≤5×104

5.权利要求1~4中任何一项所述的磁性记录介质,其中基膜的至少一个方向的杨氏模量是9.8GPa以上。

6.权利要求1~5中任何一项所述的磁性记录介质,其特征是上述基膜的厚度是1~5μm。

7.权利要求1~6中任何一项所述的磁性记录介质,其特征是上述磁性层的厚度是0.02~0.5μm。

8.权利要求1~7中任何一项所述的磁性记录介质,其特征是上述磁性层是用蒸镀法形成的层。

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