[发明专利]一种残余应力测量方法无效

专利信息
申请号: 01106312.2 申请日: 2001-03-16
公开(公告)号: CN1375689A 公开(公告)日: 2002-10-23
发明(设计)人: 陈亮山;陈怀宁;林泉洪;陈静;董秀中;黄春玲 申请(专利权)人: 中国科学院金属研究所
主分类号: G01N3/48 分类号: G01N3/48
代理公司: 沈阳科苑专利代理有限责任公司 代理人: 许宗富,周秀梅
地址: 110015 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 残余 应力 测量方法
【权利要求书】:

1.一种残余应力测量方法,其特征在于:以冲击加载代替静力加载,在物件表面形成压痕,选择压痕区外的弹性区作为测定部位,根据叠加的应力场引起的应变增量计算原始残余应力;具体操作如下:1)选取双向应变花,在含有残余应力的构件表面贴上所述双向应变花,粘贴时应变栅的方向与主应力方向一致;2)在应变片的交点中心处制作压痕,压痕直径在1.3±0.2毫米,以确保应变片处于压痕弹性区并有足够的测量精度;3)通过应变仪记录输出应变值;4)采用光学设备读出压痕直径大小;5)参照压痕标定直线得出原始弹性应变值εex、εy);6)按胡克定律计算出沿应变片方向原始残余应力,其公式为:

2.按照权利要求1所述测量方法,其特征在于:所述双向应变花为能满足压痕外弹性区测量要求并有足够测量精度的BE120-2CA-B型双向应变花。

3.按照权利要求1所述测量方法,其特征在于:所述压痕标定计算直线为根据不同构件材料在任意2~3种应力条件下,通过打击一系列直径不同的压痕后获得压痕d-应变增量Δε-外加应变的线性关系很好的标定直线。

4.按照权利要求1所述测量方法,其特征在于:当残余应力幅值小于0.5倍材料屈服点时,双向应变片的应变栅的方向与主应力方向不要求一定一致。

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