[发明专利]三维绘图方法及其装置

权利要求书

1.一种三维绘图方法，其特征在于，包括下列步骤：

a)第一粗略-z测试步骤：对应一显示画面的一特定区域提供一可见度暂存器及一第一计数器，然后，对映射至该特定区域的每一图形做第一粗略-z测试，并使第一计数器对应各该图形同步计数，以根据每一图形的测试结果及第一计数器计数值，设定该可见度暂存器中与各该图形相关的比特值；

b)第二粗略-z测试步骤：对应上述显示画面的一特定区域提供一第二计数器，当对该特定区域进行着色时，使该第二计数器对应依序映射至该特定区域的图形同步计数，以根据第二计数器的计数值逐一检查上述可见度暂存器的与各该图形相对的比特，以排除确定看不见的图形，并对不确定的图形进行第二粗略-z测试，以筛选出测试结果不确定的图形，并对测试结果确定的图形进行着色；

c)z测试步骤，对步骤b)的该特定区域中，该等不确定的图形的每一像素进行z测试，以排除该图形中看不见的像素，并对看得见的像素进行着色。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤a)中的第一粗略z测试，包括下列步骤：

A.对应该特定区域提供一第一粗略z暂存器储存最小z值及最大z值；

B.计算目前映射至该特定区域中的一图形在该特定区域中的最小z值及最大z值；

C.将该图形的最小z值及最大z值与第一粗略z暂存器中的最小z值及最大z值相比较；

D.若该图形的最大z值小于第一粗略暂存器中的最小z值，则以该图形的最小z值更新该第一粗略z暂存器中的最小z值；

E.且若该图形完全遮盖该特定区域，则以该图形的最大z值更新该第一粗略z暂存器中的最大z值。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤b)中的第二粗略-z测试，包括下列步骤：

A.对应该特定区域提供一第二粗略-z暂存器储存目前在该特定区域中的最小z值及最大z值；

B.算出欲进行第二粗略-z测试的图形的最小z值及最大z值；

C.将该图形的最小z值及最大z值与第二粗略-z暂存器中的最小z值及最大z值相比较；

D.若该图形的最大z值小于第二粗略-z暂存器的最小z值，则对该图形进行着色，并以该图形的最小z值更新该第二粗略-z暂存器的最小z值，且将该图形在该特定区域中的每一像素z值存至相对应的一z暂存器中；若该图形的最小z值大于第二粗略-z暂存器的最大z值，则不对该图形进行着色，并以该图形的最大z值更新该第二粗略-z暂存器的最大z值；否则即为尚不确定的图形，第二粗略-z暂存器的z值不变。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述骤c)中的z测试，包括下列步骤：

A.对应该特定区域中的每一像素提供一储存各该像素目前最新z值的z暂存器；

B.计算上述该等不确定的图形在该特定区域中的每一像素的z值；

C.将各该像素的z值与对应的z暂存器的z值相比较；

D.若该像素的z值小于对应的z暂存器的z值，则对该该像素进行着色，并以该像素的z值更新该对应的z暂存器的z值；而若该像素的z值大于对应的z暂存器的z值，则不对该像素进行着色，且其对应的z暂存器的z值不变。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述步骤a)的显示画面可划分为数个大小一致的区块，且所述特定区域为该等区块之一。

6.一种三维绘图装置，包括一第一粗略z测试电路、一第二粗略z测试电路及一z测试电路；

其特征在于：

第一粗略z测试电路，对映射至一显示画面的一特定区域中的每一图形进行粗略z测试，并对应每一图形记录其测试结果；

第二粗略z测试电路，根据第一粗略z测试电路所记录的测试结果，对映射至显示画面的一特定区域中的每一图形进行检查，以排除确定看不见的图形，并对不确定是否看得见的图形进行第二粗略z测试，以筛选出不确定的图形，并对确定看得见的图形进行着色；

z测试电路，对该等不确定的图形进行z测试，以排除该图形中看不见的像素，并对该图形中确定看得见的像素进行着色。