[发明专利]半导体发光器件的制造方法和半导体发光器件无效
申请号: | 01110857.6 | 申请日: | 2001-02-28 |
公开(公告)号: | CN1311553A | 公开(公告)日: | 2001-09-05 |
发明(设计)人: | 平田照二;成井启修 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | H01S5/00 | 分类号: | H01S5/00;H01L33/00;H05B33/10 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 吴增勇,傅康 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 发光 器件 制造 方法 | ||
1.一种制造半导体发光器件的方法,所述半导体发光器件在衬底上有半导体发光元件,所述方法包括下面的步骤:
使在所述衬底上形成的材料层构成图案,从而构成这样的凹槽图案,它有加宽部分和在所述加宽部分两侧的变窄部分,所述变窄部分的开口在宽度上比所述加宽部分的窄些;
在所述衬底上形成多层膜来覆盖所述凹槽图案,所述多层膜包括下复层,活性层和具有不同于所述下复层的导电类型的上复层,其中所述各层按上述顺序堆叠;
在所述多层膜上对应于所述凹槽图案的区域内形成电流注入层,以便所述电流注入层沿着所述凹槽图案的纵向伸展。
2.权利要求1的制造半导体发光器件的方法,其特征在于:
在以所述多层膜覆盖所述凹槽图案之前,去掉在所述凹槽图案的加宽部分内所暴露的所述衬底的表面,使其达到比所述变窄部分内的更深的深度。
3.权利要求1的制造半导体发光器件的方法,其特征在于:
构成所述凹槽图案的所述材料层包括多层膜,后者构成在所述衬底上形成的其它半导体发光元件。
4.一种在衬底上具有半导体发光元件的半导体发光器件,它包括:
多层膜图案,它包括下复层,活性层和具有不同于所述下复层的导电类型的上复层,其中所述各层按上述顺序堆叠;和
在所述多层膜图案上形成的电流注入层,所述电流注入层在所述多层膜图案的两边缘上伸展;其中
这样形成所述活性层,使得它的沿着所述电流注入层纵向的两端部部分薄于中心部分。
5.权利要求4的半导体发光器件,其特征在于:
在所述多层膜图案的宽度方向,所述多层膜图案两侧有凸出的图案,用于限制所述多层膜图案两边缘部分的宽度,所述宽度方向也就是大致垂直于所述电子注入层的纵向的方向。
6.权利要求5的半导体发光器件,其特征在于:
所述凸出的图案构成多层膜图案,所述多层膜图案构成在所述衬底上形成的其它半导体发光元件。
7.权利要求4的半导体发光器件,其特征在于:
使在所述多层膜图案下面的所述衬底的表面,在中心部分的高度,比沿所述电流注入层的纵向的两边缘部分的低。
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