[发明专利]适用于光学记录/再现装置的误差信号探测装置有效
申请号: | 01111742.7 | 申请日: | 2001-03-22 |
公开(公告)号: | CN1316733A | 公开(公告)日: | 2001-10-10 |
发明(设计)人: | 马炳寅;郑钟三;朴仁植;崔炳浩;都台镕 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B7/09 | 分类号: | G11B7/09 |
代理公司: | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人: | 马莹 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 适用于 光学 记录 再现 装置 误差 信号 探测 | ||
本发明涉及一种适用于光学记录/再现装置的误差信号探测装置,具体地说,涉及一种适用于可以通过使用用来在记录介质上记录信息信号/从记录介质再现信息信号的主光束,能够探测物镜和记录介质之间的相对切线倾斜误差信号的光学记录/再现装置的误差信号探测装置。
通常,光学拾取器在移过诸如在转盘上旋转的盘之类的记录介质的同时,记录和再现信息信号。当旋转的盘由于盘的弯曲或装盘错误而产生倾斜时,使记录和再现信号的性能退化。
特别地,在光学拾取器采用发出具有较短波长的光的光源,并且物镜具有很大的数值孔径(N.A.)来增加记录密度的情况下,由于光学像差与λ/(NA)3成比例,所以因盘的倾斜而产生很大的彗形像差,使得记录和再现信号的性能进一步退化。
因此,为了通过探测盘的倾斜度总量来补偿此倾斜,以防止记录/再现信号性能的退化,提出一种用来通过使用用来再现的光电探测器9的探测信号,探测盘10和物镜7之间的相对倾斜的传统装置,如图1所示。
参考图1,从光源1发出的用来记录和再现信息信号的激光穿过光束分离器5输入到物镜7。物镜7将光源1所发射来的入射光聚焦,以在盘10的记录表面上形成光斑。由盘10的记录表面反射的光穿过物镜7并由光束分离器5反射以到达光电探测器9。这里参考号8表示用来将由光束分离器5反射并由光电探测器9探测的入射光聚焦的光敏透镜。
光电探测器9由图2的四个分隔板A、B、C和D构成,每一个都根据其入射光来独立执行光电转换。因此,通过对各个分隔板A、B、C和D的探测信号进行适当地相加和/或差分,来探测信息和误差信号。
参考图2,传统的倾斜误差信号探测装置包括用来再现信息信号的光电探测器9,该光电探测器9由四个分隔板A、B、C和D构成;第一和第二加法器11和13,用来分别加分隔板A和B对与另一对分隔板C和D的探测信号进行相加;以及差分器,用来减去从第一和第二加法器11和13输入的信号、以输出一切线推挽信号。
从具有上述结构的传统倾斜误差信号探测装置输出的倾斜误差输入到用来调整物镜7和盘10之间的相对倾斜度以修改该切线倾斜误差的装置。
由于虽然传统倾斜误差信号探测装置具有结构简单的优点,但它通过减去关于平行于盘10的径向的光电探测器的中心轴的任何一侧的分隔板的探测信号来探测该切线倾斜误差,所以当物镜7被移动或物镜7和盘10之间的距离偏离焦点位置时,从其中输出的信号敏感地发生变化,使得不能精确地探测到切线倾斜误差。
此外,在盘10上聚焦成光斑并且如图3那样反射和折射以及由光电探测器9根据物镜17和盘20之间的切线倾斜度探测到的光束的外形,例如,象图4A至4C那样变化。因此,参考图2描述的传统倾斜误差信号探测装置不能精确地探测切线倾斜误差信号。
这里,图3展示了以平台/凹槽(land/groove)格式的盘20反射并折射成0阶和±1阶的光束。如附图所示,0阶和±1阶折射光在盘20的径向上相互重叠。此外,+1阶折射光和-1阶折射光的某些区域也可能相互重叠。
图4A至4C展示了由诸如被称为HD-DVD RAM盘的下一代DVD之类的、磁道间距例如为0.37μm的平台/凹槽格式的高密度记录和再现的盘20反射,并由光电探测器探测到的光束的外形。图4A展示了发生例如约-0.5度的负切线倾斜误差的情况。图4B展示了发生例如约0.5度的正切线倾斜误差的情况。
如从图4A和4C能够看到的那样,当切线倾斜在相对的方向上生成时,分别落在分隔板A和D与分隔板B和C上的光束展示根据切线关于一中心轴彼此相对的光束的外形图案。此外,该光束外形关于一个方向上的切线倾斜度主要落在分隔板的内侧,而关于相对的方向上的切线倾斜度主要落在分隔板的外侧。
如上所述,在使用具有四个分隔板的光电探测器9的传统倾斜误差信号探测装置中,切线倾斜误差信号通过从分隔板A和B的探测信号之和信号中减去分隔板C和D的探测信号之和信号进行探测。因此,传统倾斜误差信号探测装置不能精确地根据切线倾斜探测到光束外形的变化,因而不能探测到精确的切线倾斜误差信号。
为了解决以上问题,本发明的目的是提供一适用于光学记录/再现装置的误差信号探测装置,它可以通过采用具有至少6个分隔板的光电探测器,根据切线倾斜探测到光束外形的变化,从而探测到高精确度的切线倾斜误差信号。
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