[发明专利]检验盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备

权利要求书

1、一种用于检验在具有缺陷管理区域(DMA)信息的盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备的产生或更新DMA信息功能的方法，该方法包括下列步骤：

采用具有测试基准信息的测试盘，在记录和再现设备中进行再初始化而不进行认证，并在再初始化之后从所产生的缺陷管理信息中产生测试信息；和

将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较，并提供对测试信息的检验结果。

2、如权利要求1所述的方法，其中所述测试基准信息是镜像文件。

3、如权利要求1所述的方法，其中，所述测试基准信息是DMA镜像文件，它被配置成在主缺陷列表(PDL)中包含有多种缺陷。

4、如权利要求3所述的方法，其中所述执行步骤包括：将记录在测试盘上的次缺陷列表(SDL)变换到包含在测试信息中的PDL。

5、如权利要求4所述的方法，其中所述测试信息是镜像文件。

6、如权利要求5所述的方法，其中所述比较步骤包括：在登记在SDL中的缺陷数不超过在包含于测试基准信息中的SDL中登记的缺陷信息被变换到登记在PDL中的缺陷信息时可新登记到PDL中的项目总数情况下，检查在PDL的G2列表中是否登记了SDL的所有项目。

7、如权利要求5所述的方法，其中所述比较步骤包括：检查包含于测试信息中的SDL是否为空。

8、如权利要求5所述的方法，其中所述比较步骤包括：在登记在SDL中的缺陷数超过在包含于测试基准信息中的SDL中登记的SDL中的缺陷信息被变换到登记在PDL中的缺陷信息时可新登记到PDL中的项目总数情况下，检查SDL中登记的缺陷信息是否被登记在测试信息PDL的G2列表中，然后检查登记在SDL中但未登记在G2列表中的缺陷信息是否登记在测试信息的SDL中。

9、如权利要求5所述的方法，其中所述比较步骤包括：

检验所述测试信息中DMA的结构；

检验所述测试信息的盘定义结构(DDS)；

检验所述测试信息的主缺陷列表(PDL)结构；和

检验所述测试信息的次缺陷列表(SDL)结构。

10、如权利要求9所述的方法，其中所述检验DMA结构的步骤包括：检查DMA差错条件、DDS/PDL和SDL更新计数器、和DMA的内容。

11、如权利要求10所述的方法，其中，

检验DMA差错条件的步骤包括：检查4个DMA，即写入测试盘4个位置的DMA中的任意一个中是否存在差错，其中的两个位于测试盘导入区，而另两个位于导出区；

检查DDS/PDL更新计数器的步骤包括：检查4个DDS中和4个SDL中的DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“1”，并且DDS/PDL更新计数器的值是否相同；

检查SDL更新计数器的步骤包括：检查4个SDL中SDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示SDL更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“1”，并且SDL更新计数器的值是否相同；和

检查DMA的内容的步骤包括：检查4个DMA的内容是否相同。

12、如权利要求9所述的方法，其中所述检验DDS的步骤包括：检查DDS标识符、盘认证标记、DDS/PDL更新计数器、组数、区域数、主备用区位置、第一逻辑扇区号的位置、和每个区域的开始逻辑扇区号。