[发明专利]校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备无效

专利信息
申请号: 01116270.8 申请日: 2001-04-09
公开(公告)号: CN1321977A 公开(公告)日: 2001-11-14
发明(设计)人: 高祯完;郑铉权 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B20/10 分类号: G11B20/10;G11B20/18
代理公司: 柳沈知识产权律师事务所 代理人: 马莹
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 校核 缺陷 管理区 信息 方法 进行 测试 设备
【说明书】:

发明涉及可以将信息记录在可记录可再现盘上和从该可记录可再现盘上再现信息的设备,尤其涉及校核盘记录和再现设备正常生成或更新盘缺陷管理区(DMA)信息的方法,和进行校核的测试设备。

可记录和可再现盘是一种利用激光将信息记录在上面和从上面再现信息的光盘,例如,数字多功能盘随机存取存储器(DVD-RAM)。DVD-RAM是一种可读盘。根据“关于可重写盘第1部分物理规范第2.0版本的DVD规范”,DVD-RAM在盘的每一面上包括四个管理其上缺陷的DMA,即,DMA1、DMA2、DMA3和DMA4。

如图1所示,DMA1和DMA2位于靠近盘的内径的导入区,和DMA3和DMA4位于靠近盘的外径的导出区。每个DMA后面跟随着一个保留扇区。

在DMA中存储着盘定义结构(DDS)、主要缺陷列表(PDL)和次要缺陷列表(SDL)。DDS包括关于盘的格式结构的信息,例如,盘认证标志、DDS/PDL更新计数器和每条区的开始逻辑扇区号。PDL包括关于在盘初始化期间在盘上检测到的所有缺陷扇区的信息。SDL包括关于在盘正在使用的同时发生的缺陷块(纠错码(ECC)块)中每个第一扇区的扇区号的信息、在用于替换缺陷块的备用块中每个第一扇区的扇区号、和关于备用区的信息。

包括在DMA中的一些信息可以直接读取和使用。另一方面,DMA包括随盘上缺陷的位置和数量而改变的信息。另外,一些信息,例如,每条区的开始扇区号的位置信息或逻辑扇区号0的位置信息,可以通过进行根据寄存在DMA中的缺陷信息的算法获得。

在盘的每一面上存在四个DMA是为了防止由于DMA信息中的错误引起的错误的缺陷管理。由于这样的DMA信息与物理数据扇区密切相关,因此,当不正确地写入或读取DMA信息时,诸如可移动光盘之类的记录介质可能与两种不同的盘记录和再现设备不兼容。

这是因为,当盘记录和再现设备(例如,DVD-RAM记录和再现设备)的记录和再现结构被划分成:文件系统层,使主计算机与记录和再现设备相连接的主接口层、用于记录和再现物理信号的物理盘记录和再现设备(或盘驱动单元)层、和记录介质层时,在物理盘记录和再现设备层和它的下一层进行DMA信息的写和读。

在实际的文件系统中,要记录和再现的用户信息只根据逻辑扇区号发送到盘记录和再现设备,盘记录和再现设备将逻辑扇区号转换成物理扇区号以记录或再现用户信息。在这种情况中,使用DMA信息。这样,当在给定的盘记录和再现设备中错误地读取或写入DMA信息时,就不能在另一台记录和再现设备中正确地读取或写入数据。

因此,需要一种校核盘记录和再现设备正确地读取记录在盘上的DMA信息和将DMA信息正确地记录在盘上以生成或更新DMA信息的方法。

为了解决上述问题,本发明的第一个目的是提供一种校核盘记录和再现设备以读或写模式正常分析缺陷管理区(DMA)信息的方法。

本发明的第二个目的是提供一种校核盘记录和再现设备以读或写模式正常分析利用空白盘和满足测试条件构成的测试基准DMA镜像文件生成的盘的DMA信息的方法。

本发明的第三个目的是提供一种校核盘记录和再现设备以读或写模式正常分析盘的DMA信息的方法,DMA信息包含每个区的错误开始逻辑扇区号(LSN)。

本发明的第四个目的是提供一种用于测试盘记录和再现设备是否以读或写模式正常分析DMA信息的测试设备。

本发明的其它目的和优点部分体现在下述的说明书中,部分可以从说明书中明显看出,或可以从本发明的具体实践中得知。

为了实现本发明的上述和其它目的,本发明提供了校核将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的DMA信息分析功能的方法。该方法包括利用带有测试基准信息的测试盘以读或写模式操作记录和再现设备;和校验记录和再现设备是否以读或写模式操作以校核记录和再现设备的DMA信息分析功能。

为了实现本发明的上述和其它目的,本发明提供了测试将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的DMA信息分析功能的设备。该设备包括带有测试基准信息的测试盘;和待测试驱动器,用于分析当测试盘装载到其中时记录在测试盘上的DMA信息,和用于试图以读或写模式进行处理。

通过结合附图对本发明的优选实施例进行详细描述,本发明的上述目的和优点将更加清楚。在附图中:

图1显示了可重写盘的示意性结构;

图2是显示根据本发明的测试设备的功能的方块图;

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