[发明专利]光盘缺陷管理区信息的验证方法无效
申请号: | 01116272.4 | 申请日: | 2001-04-09 |
公开(公告)号: | CN1323032A | 公开(公告)日: | 2001-11-21 |
发明(设计)人: | 高祯完;郑铉权 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B20/10 | 分类号: | G11B20/10;G11B20/18 |
代理公司: | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人: | 马莹 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光盘 缺陷 管理区 信息 验证 方法 | ||
1.一种验证在测试模式下,用于在带有DMA信息的光盘中记录信息或从带有DMA信息的光盘中重现信息的记录和重现装置中执行了测试DMA信息生成和更新过程后,DMA信息被正确生成和更新的方法,该方法包括:
读取所生成或更新的DMA信息;和
通过使用预先设定的用于测试模式的参考DMA信息,验证生成或更新的DMA信息,并提供验证的结果。
2.如权利要求1所述的方法,其中,所生成的或更新的DMA信息以DMA镜像文件的形式被读取。
3.如权利要求1所述的方法,其中,所生成的或更新的DMA信息直接从测试光盘上的DMA中读取。
4.如权利要求1所述的方法,其中,测试模式是第一测试模式、第二测试模式、第三测试模式和第四测试模式中的一种,第一测试模式包括确认的初始化和没有确认的初始化,第二测试模式包括确认的再初始化、第二缺陷列表(SDL)转换的再初始化和清除G2列表和SDL的再初始化,第三测试模式包括验证补充备用区扩展的初始化,第四测试模式包括验证记录是否根据错误的DMA信息被执行。
5.如权利要求4所述的方法,还包括:
通过在不含信息的空盘上形成已知的缺陷获得第一测试盘,并在第一测试模式下使用该第一测试盘;
通过在第一测试盘上记录预定DMA内容获得第二测试盘,并在第二测试模式下使用第一镜像文件,其中DMA信息记录在第一测试盘上时,补充备用区未满;
通过在第三测试模式下,在第一测试盘上记录预定DMA内容获得第三测试盘,并在第三测试模式下使用第二镜像文件,当DMA记录在第一测试盘时,第二镜像文件具有足够的SDL缺陷填充补充备用区;和
通过在第四测试模式下,在第一测试盘上记录第三镜像文件获得第四测试盘,其中在DMA的预定的内容中的每一区的起始扇区数故意被错误地写入。
6.如权利要求1所述的方法,其中该验证包括验证在光盘的多个位置上写入的具有相同数据的多个DMA。
7.如权利要求1所述的方法,其中该验证包括验证DMA中的光盘定义结构(DDS)。
8.如权利要求7所述的方法,其中DDS的验证包括检查DDS标识符、光盘确认标志、DDS/主缺陷列表(PDL)更新计数器、组数、区域数、主备用区的位置、每一区域的第一逻辑扇区号和起始逻辑扇区号的位置。
9.如权利要求8所述的方法,其中:
DDS标识符的检查包括检查DDS标识符是否是预定的值;
光盘确认标志的检查包括根据预定的测试模式检查在光盘标志位中指示在进行的位的值、指示用户确认的位的值和指示光盘制造商确认的位的值;
DDS/PDL更新计数器的检查按照预定的测试模式包括检查DDS/PDL更新计数器的值和的DDS/PDL更新计数器的增量,该增量表示DDS/PDL更新计数器在预定的测试之前和之后的差;
组数的检查包括按照光盘类型检查组数;
区域数的检查包括按照光盘类型检查区域数;和
主备用区的位置的检查包括检查主备用区的第一和最后扇区号。
10.如权利要求9所述的方法,其中光盘确认标志的检查包括:
检查指示在光盘确认标志位中的进行/未进行的位位置b7的值是否为“0b”,并当位位置b7的值为“1b”时,通知用户格式化失败,因为位位置b7的值为“0b”指示格式化已完成,位位置b7的值为“1b”指示格式化在进行;
检查在光盘确认标志位中保留位位置b6至b2的值是否均为“0b”;
检查在光盘确认标志位中指示用户确认标志的位位置b1值,在没有确认的初始化的模式下是否为“0b”,在确认的初始化的模式、没有确认的再初始化的模式和确认的再初始化的模式下是否为“1b”;和
检查在光盘确认标志位中指示光盘制造商确认标志的位位置b0值,在没有确认的初始化的模式和确认的初始化的模式下是否为“0b”,在没有确认的再初始化的模式和确认的再初始化的模式下是否为“1b”。
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